Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0425133 - FZÚ 2014 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Romanyuk, Olexandr - Jiříček, Petr - Mutombo, Pingo - Paskova, T. - Bartoš, Igor
    Surface analysis of free-standing GaN substrates with polar, nonpolar,and semipolar crystal orientations.
    Gallium Nitride Materials and Devices VIII. Bellingham: SPIE, 2013 - (Chyi, J.; Nanishi, Y.; Morkoc, H.; Piprek, J.; Yoon, E.; Fujioka, H.), "862521-1"-"862521-9". Proceedings of SPIE, 8625. ISBN 978-0-8194-9394-1. ISSN 0277-786X.
    [SPIE Symposium on Gallium Nitride Materials and Devices /8./. San Francisco (US), 04.02.2013-07.02.2013]
    Grant ostatní: AV ČR(CZ) M100101201
    Institucionální podpora: RVO:68378271
    Klíčová slova: surface structure * non-polar GaN * semipolar GaN * LEED * photoelectron diffraction * crystal polarity
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    http://dx.doi.org/10.1117/12.2006400
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0231058
     
     
  2. 2.
    0132636 - FZU-D 990058 RIV SK eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Jiříček, Petr
    Measurement of the inelestic mean free path of electrns in copper and copper oxides.
    80-227-1010-5. In: New Trends in Surface Analysis. Bratislava: Slovak University of Technology. Faculty of Electrical Engineering and Information Technology. Microelectronics department, 1997 - (Breza, J.; Liday, J.; Frank, L.; Král, J.; Zemek, J.), s. 27-30. Proceedings of the International Seminar.
    [NTSA 97 - New Trends in Surface Analysis. Bratislava (SK), 26.11.1997-28.11.1997]
    Grant CEP: GA ČR GA202/95/0032
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0030647
     
     
  3. 3.
    0132635 - FZU-D 990057 RIV SK eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Cukr, Miroslav - Jiříček, Petr - Zemek, Josef - Bartoš, Igor
    Surface electron structure of GaAs(100).
    80-227-1010-5. In: New Trends in Surface Analysis. Bratislava: Slovak University of Technology. Faculty of Electrical Engineering and Information Technology. Microelectronics department, 1997 - (Breza, J.; Liday, J.; Frank, L.; Král, J.; Zemek, J.), s. 35-38. Proceedings of the International Seminar.
    [NTSA 97 - New Trends in Surface Analysis. Bratislava (SK), 26.11.1997-28.11.1997]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA1010531
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0030646
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.