Výsledky vyhledávání

0304060 - URE-Y 20020115 CZ cze I - Interní tisk
Zeipl, Radek - Lošťák, P. - Jelínek, Miroslav - Karamazov, S. - Walachová, Jarmila
STM topografie velmi tenkých vrstev Bi₂Te₃ připravených laserovou ablací.
[STM topography of very thin Bi₂Te₃ layers prepared by laser ablation.]
[Praha]: [Spektroskopická společnost Jana Marca Marci], 2002. 1 s. Třetí seminář o metodách blízkého pole. s. 16
Grant CEP: GA ČR GA202/02/0098
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2067918
Klíčová slova: thin films * nanotechnology * materials properties
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0114204