Výsledky vyhledávání
- 1.0471438 - FZÚ 2017 RIV CZ cze C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Čerňanský, Marian
Aproximace Fourierových koeficientů difrakčních profilů.
[Approximations of Fourier coefficients of diffractions profiles.]
Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology. Struktura 2016. Praha: Krystalografická společnost, 2016, s. 361-362. ISSN 1211-5894.
[Struktura 2016, Colloquium of the Czech and Slovak Crystallographic Association. Tábor (CZ), 12.09.2016-15.09.2016]
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: line profile analysis * Fourier coefficients * crystallite size * microstrain
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0268829 - 2.0355999 - FZÚ 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Drahokoupil, J. - Čerňanský, Marian - Ganev, N. - Kolařík, K. - Pala, Z.
Microstresses and x-ray diffraction.
Proceedings of the 46th International Scientific Conference Experimental Stress Analysis 2008. Ostrava: VŠB - TU, 2008 - (Fuxa, J.; Macura, F.; Halama, R.), s. 94-98. ISBN 978-80-248-1774-3.
[Experimental Stress Analysis 2008 /46./. Horní Bečva (CZ), 02.06.2008-05.06.2008]
Grant CEP: GA ČR GA106/07/0805
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100520
Klíčová slova: microstress and macrostress * shot peening * x-ray diffraction * depth distribution
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0194635 - 3.0355955 - FZÚ 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Drahokoupil, J. - Čerňanský, Marian - Kolařík, K.
Microstrains and x-ray diffraction.
Proceedings of 47th international Scientific conference Experimental Stress Analysis 2009. Liberec: Technical University of Liberec, 2009 - (Marvalová, B.; Petriková, I.; Čapek, L.), s. 94-98. ISBN 978-80-7372-483-2.
[Experimental Stress Analysis 2009. Sychrov (CZ), 08.06.2009-11.06.2009]
Grant CEP: GA ČR GA106/07/0805
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100520
Klíčová slova: microstrain * x-ray diffraction * single line * Voigt function
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0194601 - 4.0313665 - FZÚ 2009 RIV BG eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Ganev, N. - Čerňanský, Marian - Pala, Z. - Drahokoupil, Jan
X-ray diffraction study of macroscopic and microscopic stresses in steel surfaces after grinding.
[Rentgenové difrakční studium makroskopických a mikroskopických napětí na povrchu ocelí po broušení.]
Proceedings of UNITECH ´05, Vol. II. Gabrovo: Technical University Gabrovo, 2005, s. 69-73. ISBN 954-683-325-8.
[International Scientific Conference UNITECH ´05. Gabrovo (BG), 24.11.2005-25.11.2005]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100520
Klíčová slova: X-ray diffraction * macroscopic and microscopic stresses * grinding * steels
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0164411 - 5.0313563 - FZÚ 2009 RIV IT eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Ganev, N. - Čerňanský, Marian - Boháč, Petr - Drahokoupil, Jan - Čtvrtlík, Radim - Stranyánek, Martin
Non-destructive determination of residual stress and microhardness distribution in surface layers of burnished steels.
[Nedestruktivní určení rozložení zbytkového pnutí a mikrotvrdosti v povrchových vrstvách leštěných ocelí.]
Proceedings of the 22nd Danubia-Adria Symposium on Experimental Methods in Solid Mechanics. Parma: University of Parma, 2005 - (Vetori, M.), 51/1-51/2. ISBN 3-9501554-3-0.
[Danubia-Adria Symposium on experimental methods in solid mechanics. Monticelli Terme - Parma (IT), 28.09.2005-01.10.2005]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100520
Klíčová slova: residual stresses * X-ray diffraction * microhardness * burnished steels
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
http://cdm.unipr.it/das2005/proceed.htm
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0004790 - 6.0313551 - FZÚ 2009 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Ganev, N. - Čerňanský, Marian - Drahokoupil, Jan - Kolařík, K.
Complete x-ray investigation of residual stress field due to shotpeening of steels.
[Kompletní rentgenové studium pole zbytkového napětí způsobeného balotinováním ocelí.]
International scientific conference on the occasion of the 55th anniversary of founding the Faculty of mechanical engineering VŠB. Section 9 - Computational and Experimental Analysis of Strength. Ostrava: VŠB TU, 2005, s. 3-4. ISBN 80-248-0896-X.
[International Scientific Conference held on the occasion of the 55th anniversary of founding the Faculty of Mechanical Engineering of the VSB - Technical University of Ostrava. Ostrava (CZ), 07.09.2005-09.09.2005]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100520
Klíčová slova: macroscopic and microscopic residual stresses * depth profiling * shot peening * steels
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0004789 - 7.0313545 - FZÚ 2009 RIV CZ cze C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Ganev, N. - Čerňanský, Marian - Drahokoupil, Jan - Kolařík, K.
Příspěvek k difrakční analýze makroskopických a mikroskopických zbytkových napětí v povrchových vrstvách balotinovaných ocelí.
[Contribution to diffraction analysis of macroscopic and microscopic residual stresses in surface layers of shot-peened steels.]
Experimental stress analysis 2005. Brno: Institut of solid mechanics Brno, 2005 - (Houfek, L.; Návrat, T.; Fuis, V.), s. 25-26. ISBN 80-214-2941-0.
[International conference Experimental Stress Analysis 2005 /43./. Skalský Dvůr (CZ), 07.06.2005-09.06.2005]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100520
Klíčová slova: macroscopic and microscopic residual stresses * X-ray diffraction * shot peening * steels
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0164333 - 8.0305067 - FZÚ 2008 RIV BG eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Ganev, N. - Čerňanský, Marian - Zubko, P. - Bláhová, O. - Drahokoupil, Jan
Investigation of residual stress and nanohardness gradients in surface layers of burnished steel samples.
[Výkum gradientů zbytkových napětí a nanotvrdosti v povrchových vrstvách.]
Proceedings of UNITECH ´06, Vol. II. Gabrovo: Technical University Gabrovo, 2006, II/163-II/168. ISBN 954-683-352-5.
[International Scientific Conference UNITECH'06. Gabrovo (BG), 24.11.2006-25.11.2005]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100520
Klíčová slova: residual stress * nanohardness * gradient * burnishing
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0158478 - 9.0305057 - FZÚ 2008 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Ganev, N. - Čerňanský, Marian - Drahokoupil, Jan - Zubko, P. - Bláhová, O.
Residual stress and nanohardness gradients in surface layers of polished steell samples.
[Gradienty zbytkových napětí a nanotvrdosti v povrchových vrstvách leštěných vzorků ocelí.]
Lokální mechanické vlastnosti 2006-sborník přednášek. Plzeň: Západočeská univerzita, Plzeň, 2007, s. 63-69. ISBN 80-7043-512-7.
[Lokální mechanické vlastnosti/Možnosti aplikace výsledků měření. Nečtiny (CZ), 08.11.2006-10.11.2006]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100520
Klíčová slova: residual stress * nanoindentation * gradient * polishing
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0158475 - 10.0134256 - FZU-D 20030152 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Král, Karel - Zdeněk, Petr - Khás, Zdeněk - Čerňanský, Marian
Sub-wetting layer continuum states in the self-organized quantum dot samples.
1-55899-674-5. In: Quantum Confined Semiconductor Nanostructures. Boston: Material Research Society, 2003 - (Buriak, J.), s. E13.1-X. MRS Symposium Proceedings Series., 737.
[Physics and Technology of Semiconductors Quantum Dots 2002 Fall Meeting. Boston (US), 02.12.2002-06.12.2002]
Grant CEP: GA AV ČR IAA1010113; GA MŠMT OC P5.20
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010914
Klíčová slova: line broadening * quantum dots
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0032170