Výsledky vyhledávání
- 1.0511504 - FZÚ 2020 RIV CZ cze A - Abstrakt
Čerňanský, Marian
Popis difrakčních profilů pomocí pojmů matematické statistiky.
[The description of diffraction profiles by notions of mathematical statistics.]
Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology. Czech and Slovak Crystallographic Association. Roč. 19, č. 2 (2012), s. 89-90. ISSN 1211-5894.
[Struktura 2012 - Kolokvium Krystalografické společnosti. 11.09.2012-14.09.2012, Klatovy]
Grant CEP: GA MŠMT EF16_027/0008215
Grant ostatní: MOBILITY FZU(XE) CZ.02.2.69/0.0/0.0/16_027/0008215
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: probability distribution * moment * convolution * cumulant
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0302944 - 2.0511502 - FZÚ 2020 CZ cze A - Abstrakt
Čerňanský, Marian
Velikost částic a polohy difrakčních linií.
[Particle size and positions of diffraction lines.]
Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology. Czech and Slovak Crystallographic Association. Roč. 26, č. 3 (2019), s. 158-159. ISSN 1211-5894.
[Struktura 2019 - Kolokvium Krystalografické společnosti. 10.06.2019-13.06.2019, Ždár nad Sázavou]
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: particle size * positions of diffraction lines * lattice parameter * nanocrystal
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0301749 - 3.0425581 - FZÚ 2014 CZ cze A - Abstrakt
Čerňanský, Marian
Určování velikosti krystalitů a mikronapětí z profilů difrakčních linií.
[Particle size and microstress estimation from the profiles of diffraction lines.]
Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology. Czech and Slovak Crystallographic Association. Roč. 20, č. 2 (2013), s. 75-76. ISSN 1211-5894.
[Struktura 2013 - Kolokvium Krystalografické společnosti. 09.09.2013-13.09.2013, Češkovice (Blansko)]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100520
Klíčová slova: crystallite size * microstrain * line profile analysis * X-ray diffraction
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0231414 - 4.0132367 - FZU-D 990313 CZ eng A - Abstrakt
Vaněk, Přemysl - Krupková, Radmila - Březina, Bohuslav - Studnička, Václav - Čerňanský, Marian - Železný, Vladimír - Savinov, Maxim - Jurek, Karel
Preperation and characterization of PbTiO3 and BaTiO3 nanopowders and PbTiO3-SiO2 nanocomposites.
13 Czech-polish seminar "Structural and ferroelectric phase transitions". 1998. s. -.
[Czech-polish seminar "Structural and ferroelectrics phase transitions" /8./. 18.05.1998-23.05.1998, Liblice]
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0030394 - 5.0001386 - FZÚ 2006 SG eng A - Abstrakt
Jelínek, Miroslav - Klini, A. - Lančok, Ján - Čerňanský, Marian - Studnička, Václav - Oswald, Jiří
Oriented or nanocrystalline ZnO layers grown by ns and subps lasers in combination with RF discharge.
ICMAT 2003 (International Conference on Materials for Advanced Technologies). Singapore: MRS, 2004. s. 587-587.
[International Conference on Materials for Advanced Technologies (ICMAT). 07.12.2003-12.12.2003, Singapore]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010914
Klíčová slova: ZnO layers
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0109724