Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0303661 - URE-Y 20000068 CZ cze A - Abstrakt
    Vaniš, Jan - Walachová, Jarmila - Zelinka, Jiří - Karamazov, S. - Lošťák, P. - Cukr, Miroslav - Zich, P. - Horák, Jaromír - Czajka, R. - Chow, D.H. - McGill, T. C.
    Výsledky studie polovodičů a polovodičových struktur pomocí BEEM/BEES, STM a AFM.
    [Study of semiconductors a semiconductor heterostructures by BEEM/BEES, STM and AFM.]
    Praha: Jednota československých matematiků a fyziků, 2000. ISBN 80-7015-720-8. Sborník příspěvků ze semináře OS Polovodiče FVS JČMF. - (Hulicius, E.; Humlíček, J.; Velický, B.). s. 33
    [Liblice 2000. 31.01.2000-02.02.2000, Liblice]
    Grant CEP: GA ČR GA102/97/0427
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2067918
    Klíčová slova: nanostructured materials * semiconductor materials * thermoelectric devices * Schottky effect
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0113849
     
     
  2. 2.
    0303328 - URE-Y 980117 CZ eng A - Abstrakt
    Walachová, Jarmila - Zelinka, Jiří - Vaniš, Jan - Chow, D. H. - Karamazov, Simeon - Cukr, Miroslav - Zich, P. - McGill, T. C.
    Testing of quantum well structures by BEEM/BEES.
    Prague: IREE AS CR, 1998. ISBN 80-86269-019. AMFO'98. - (Procházková, O.). s. 14
    [Czech-Chinese Workshop on Advanced Materials for Optoelectronics - AMFO'98. 15.06.1998-17.06.1998, Prague]
    Grant CEP: GA ČR GA102/97/0427
    Klíčová slova: nanostructured materials * spectroscopy * semiconductor quantum wells
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0113574
     
     
  3. 3.
    0302935 - URE-Y 960068 ES eng A - Abstrakt
    Karamazov, S. - Walachová, Jarmila - Zelinka, Jiří - Vaniš, Jan - Cukr, Miroslav - Zich, P.
    Influence of impurity concentration on Au-nGaAs barrier height measured by BEEM in air.
    [Sevilla]: [European Physical Society], 1996. EPS 10 Trends in Physics. s. 37
    [EPS Trends in Physics /10./. 09.09.1996-13.09.1996, Sevilla]
    Grant CEP: GA ČR GA202/94/1056
    Klíčová slova: field emission electron microscopy * spectroscopy * semiconductors
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0113224
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.