Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0097914 - FZÚ 2012 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
    Straňák, V. - Hubička, Zdeněk - Adámek, P. - Blažek, J. - Tichý, M. - Špatenka, P. - Hippler, R. - Wrehde, S.
    Time-resolved probe diagnostics of pulsed dc magnetron discharge during deposition of TiOx layers.
    [Časově rozlišená sondová diagnostika pulzního dc magnetronu za depozice TiOx vrstev.]
    Surface and Coatings Technology. Roč. 21, - (2006), s. 2512-2519. ISSN 0257-8972
    Grant CEP: GA ČR GA202/05/2242
    Grant ostatní: Deutsche Forschungsgemeinschaft(DE) SFB/TR 24
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100522
    Klíčová slova: magnetron discharge * pulsed magnetron * time and spatially-resolved probe diagnostics
    Kód oboru RIV: BL - Fyzika plazmatu a výboje v plynech
    Impakt faktor: 1.559, rok: 2006
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0156948
     
     
  2. 2.
    0097902 - FZÚ 2012 RIV CZ eng J - Článek v odborném periodiku
    Straňák, V. - Hubička, Zdeněk - Adámek, P. - Blažek, J. - Tichý, M. - Špatenka, P. - Hippler, R. - Wrehde, S.
    Investigation of the time evolution of plasma parameters in a pulsed magnetron discharge.
    [Diagnostika časového vývoje parametrů plazmatu v pulzním magnetronovém výboji.]
    Czechoslovak Journal of Physics. Roč. 56, - (2006), s. 1364-1370. ISSN 0011-4626
    Grant CEP: GA ČR GA202/05/2242; GA ČR GA202/06/0776
    Grant ostatní: Deutsche Forschungsgemeinschaft(DE) SFB/TR 24
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100522
    Klíčová slova: pulsed magnetron * time resolved measurements * Langmuir probe
    Kód oboru RIV: BL - Fyzika plazmatu a výboje v plynech
    Impakt faktor: 0.568, rok: 2006
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0004483
     
     
  3. 3.
    0097895 - FZÚ 2008 RO eng J - Článek v odborném periodiku
    Straňák, Vítězslav - Tichý, M. - Kříha, M. - Scholtz, V. - Šerá, B. - Špatenka, P.
    Technological applications of surfatron produced discharge.
    [Technologické aplikace výboje generovaného pomocí surfatronu.]
    Journal of Optoelectronics and Advanced Materials. Roč. 9, č. 4 (2007), s. 852-857. ISSN 1454-4164. E-ISSN 1841-7132
    Grant CEP: GA ČR GA202/05/2242
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100520; CEZ:AV0Z10100522
    Klíčová slova: probe diagnostic of microwave plasma at frequency 2.45 GHz in CW and pulse regime
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Impakt faktor: 0.827, rok: 2007
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0004482
     
     
  4. 4.
    0053681 - FZÚ 2007 RIV JP eng J - Článek v odborném periodiku
    Olejníček, Jiří - Do, H.T. - Hubička, Zdeněk - Hippler, R. - Jastrabík, Lubomír
    Blue Diode Laser Absorption Spectroscopy of Pulsed Magnetron Discharge.
    [Laserová absorpční spektroskopie pulsního magnetronového výboje pomocí modré diody.]
    Japanese Journal of Applied Physics. Roč. 45, 10B (2006), s. 8090-8094. ISSN 0021-4922. E-ISSN 1347-4065
    Grant CEP: GA AV ČR 1QS100100563; GA ČR GA202/05/2242
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521; CEZ:AV0Z10100520
    Klíčová slova: laser absorption spectroscopy * pulsed magnetron * sputtering parameters
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Impakt faktor: 1.222, rok: 2006
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0141869
     
     
  5. 5.
    0023630 - FZÚ 2006 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Olejníček, Jiří - Píchal, J. - Blažek, J. - Špatenka, P.
    An algorithm for extremely complicated interference pattern evaluation.
    [Algoritmus pro vyhodnocení extrémně komplikovaných interferenčních struktur.]
    Review of Scientific Instruments. Roč. 76, - (2005), 073103/1-073103/6. ISSN 0034-6748. E-ISSN 1089-7623
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GA202/05/2242
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100522
    Klíčová slova: interferometry * phase shift * electron concentration * pinch
    Kód oboru RIV: BL - Fyzika plazmatu a výboje v plynech
    Impakt faktor: 1.235, rok: 2005
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0112244
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.