Výsledky vyhledávání
- 1.0376501 - ÚFE 2013 CZ eng A - Abstrakt
Grym, Jan - Nohavica, Dušan - Jarchovský, Zdeněk - Piksová, K.
Electron Microscopy of Porous Semiconductors.
Mikroskopie 2011. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2011 - (Frank, L.; Hozák, P.). s. 44-44
[Mikroskopie 2011. 17.02.2011-18.02.2011, Nové Město na Moravě]
Grant CEP: GA ČR GAP108/10/0253
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20670512
Klíčová slova: electron microscopy * porous semiconductors * semiconductor technology
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0208882 - 2.0023408 - ÚFE 2006 CZ eng A - Abstrakt
Nohavica, Dušan - Gladkov, Petar - Jarchovský, Zdeněk
Asymmetric CO pores etching in A3 B5 semiconductors.
[Asymetrie krystalografických pórů v polovodičích A3 B5]
NANO '05. Abstract booklet. Brno: Vysoké učení technické, 2005 - (Šandera, P.). s. 33. ISBN 80-214-3044-3.
[NANO '05 - NANEMAT. 08.11.2005-10.11.2005, Brno]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) ME 697
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20670512
Klíčová slova: III-V semiconductors * porous semiconductors * indium compounds
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0112052