Výsledky vyhledávání
- 1.0487360 - FZÚ 2018 RIV NL eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Yang, Y. - Liu, R. - McIntosh, R. - Abbott, M. - Sudbury, B. - Holovský, Jakub - Ye, F. - Deng, W. - Feng, Z. - Verlinden, P.J. - Altermatt, P.P.
Combining ray tracing with device modeling to evaluate experiments for an optical analysis of crystalline Si solar cells and modules.
Energy Procedia. Proceedings of International Conference on Silicon Photovoltaics /7./. Amsterdam: Elsevier Ltd, 2017 - (Preu, R.), s. 240-249. 124. ISSN 1876-6102.
[International Conference on Silicon Photovoltaics /7./ - SiliconPV 2017. Freiburg (DE), 03.04.2017-05.04.2017]
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: ray tracing * device simulation * crystalline Si solar cells * loss analysis
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0282030