Výsledky vyhledávání
- 1.0134102 - FZU-D 20020391 RIV CZ eng J - Článek v odborném periodiku
Láska, Leoš - Krása, Josef - Stöckli, M. P. - Fehrenbach, C. W.
Total electron emission from metals due to the impact of highly-charged Xe ioms with energies up to MeV.
Czechoslovak Journal of Physics. Roč. 51, č. 8 (2001), s. 791-797. ISSN 0011-4626
Grant CEP: GA AV ČR IAA1010819
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010921
Klíčová slova: corpuscular diagnostic * multiply charged ions * secondary electron emission
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 0.345, rok: 2001
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0000653 - 2.0133992 - FZU-D 20020280 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Láska, Leoš - Krása, Josef - Stöckli, M. P. - Fehrenbach, C. W.
Multiply charged ion-induced secondary electron emission from metals relevent for laser source beam diagnostics.
Review of Scientific Instruments. Roč. 73, č. 2 (2002), s. 776-778. ISSN 0034-6748. E-ISSN 1089-7623
Grant CEP: GA AV ČR IAA1010819; GA AV ČR IAA1010105; GA MŠMT LN00A100
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010921
Klíčová slova: ion-induced secondary electron emission * laser ion source beam diagnostics
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 1.437, rok: 2002
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0031938 - 3.0133977 - FZU-D 20020265 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Krása, Josef - Láska, Leoš - Stöckli, M. P. - Fehrenbach, C. W.
Electron yield from Be-Cu induced by highly charged Xe q+ ions.
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B. Roč. 196, - (2002), s. 61-67. ISSN 0168-583X. E-ISSN 1872-9584
Grant CEP: GA AV ČR IAA1010105; GA MŠMT LN00A100
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010921
Klíčová slova: highly charged ion-induced electron emission * angle impact effect * Be-Cu
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 1.158, rok: 2002
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0031924