Výsledky vyhledávání
- 1.0134102 - FZU-D 20020391 RIV CZ eng J - Článek v odborném periodiku
Láska, Leoš - Krása, Josef - Stöckli, M. P. - Fehrenbach, C. W.
Total electron emission from metals due to the impact of highly-charged Xe ioms with energies up to MeV.
Czechoslovak Journal of Physics. Roč. 51, č. 8 (2001), s. 791-797. ISSN 0011-4626
Grant CEP: GA AV ČR IAA1010819
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010921
Klíčová slova: corpuscular diagnostic * multiply charged ions * secondary electron emission
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 0.345, rok: 2001
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0000653 - 2.0133992 - FZU-D 20020280 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Láska, Leoš - Krása, Josef - Stöckli, M. P. - Fehrenbach, C. W.
Multiply charged ion-induced secondary electron emission from metals relevent for laser source beam diagnostics.
Review of Scientific Instruments. Roč. 73, č. 2 (2002), s. 776-778. ISSN 0034-6748. E-ISSN 1089-7623
Grant CEP: GA AV ČR IAA1010819; GA AV ČR IAA1010105; GA MŠMT LN00A100
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010921
Klíčová slova: ion-induced secondary electron emission * laser ion source beam diagnostics
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 1.437, rok: 2002
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0031938 - 3.0133978 - FZU-D 20020266 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Krása, Josef - Láska, Leoš - Stöckli, M. P. - Fry, D.
Secondary-electron yield from Au induced by highly charged Ta ions.
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B. Roč. 173, - (2001), s. 281-286. ISSN 0168-583X. E-ISSN 1872-9584
Grant CEP: GA AV ČR IAA1010819
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010914
Klíčová slova: highly charged ion-surface interaction * ion-induced electron emission * angle impact effect
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.041, rok: 2001
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0031925 - 4.0133977 - FZU-D 20020265 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Krása, Josef - Láska, Leoš - Stöckli, M. P. - Fehrenbach, C. W.
Electron yield from Be-Cu induced by highly charged Xe q+ ions.
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B. Roč. 196, - (2002), s. 61-67. ISSN 0168-583X. E-ISSN 1872-9584
Grant CEP: GA AV ČR IAA1010105; GA MŠMT LN00A100
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010921
Klíčová slova: highly charged ion-induced electron emission * angle impact effect * Be-Cu
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 1.158, rok: 2002
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0031924 - 5.0133015 - FZU-D 20000374 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Krása, Josef - Pfeifer, Miroslav - Stöckli, M. P. - Lehnert, U. - Fry, D.
The effect of the first dynode`s geometry on the detection efficiency of a 119EM electron multiplier used as a highly charged ion detector.
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B. Roč. 152, - (1999), s. 397-402. ISSN 0168-583X. E-ISSN 1872-9584
Grant CEP: GA AV ČR IAA1010819; GA ČR GA202/97/0918
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010921
Kód oboru RIV: BL - Fyzika plazmatu a výboje v plynech
Impakt faktor: 1.118, rok: 1999
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0031005 - 6.0133013 - FZU-D 20000372 RIV CZ eng J - Článek v odborném periodiku
Krása, Josef - Láska, Leoš - Stöckli, M. P. - Fry, D.
Electron yield per ion charge-state correction for an ion collector with unsupressed secondary electron enission.
Czechoslovak Journal of Physics. Roč. 50, č. 7 (2000), s. 797-892. ISSN 0011-4626
Grant CEP: GA AV ČR IAA1010819
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010921
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 0.298, rok: 2000
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0000599 - 7.0131706 - FZU-D 980304 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Krása, Josef - Woryna, E. - Stöckli, M. P. - Novák, J. (ed.)
The effect of the first dynode's curvature on the gain of a type 226EM electron multiplier used as a detector of highly charged ions.
Measurement Science and Technology. Roč. 9, č. 9 (1998), s. 1632-1634. ISSN 0957-0233. E-ISSN 1361-6501
Grant CEP: GA MŠMT ME 008; GA AV ČR IAA1010819
Impakt faktor: 0.659, rok: 1998
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0029758 - 8.0131705 - FZU-D 980302 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Krása, Josef - Woryna, E. - Stöckli, M. P. - Winecki, S. - Walch, B. P. - Novák, J. (ed.)
Gain of windowless electron multipliers 226EM and EMI 9643/2B for highly charged Ta ions.
Review of Scientific Instruments. Roč. 69, č. 1 (1998), s. 95-100. ISSN 0034-6748. E-ISSN 1089-7623
Grant ostatní: Department of Energy(US) ES008
Impakt faktor: 1.177, rok: 1998
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0029757