Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0524032 - ÚTAM 2020 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Tippner, J. - Kloiber, Michal - Hrivnák, Jaroslav - Zlámal, J. - Sebera, V.
    Comparison of acoustic non-destructive methods and semidestructive methods for logs and timber assessment.
    Proceedings of the 62nd International Convention of Society of Wood Science and Technology. Monona: Society of Wood Science and Technology, 2019, s. 333-340. ISBN 978-0-9817876-9-5.
    [International Convention of Society of Wood Science and Technology /62./. Tenaya Lodge (US), 20.10.2019-25.10.2019]
    Grant CEP: GA MK(CZ) DG16P02M026
    Klíčová slova: spruce * logging * hewing * beam * assessment
    Obor OECD: Construction engineering, Municipal and structural engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0308344
     
     
  2. 2.
    0509069 - ÚTAM 2020 RIV PT eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Tippner, J. - Kloiber, Michal - Hrivnák, Jaroslav - Zlámal, J. - Kunecký, Jiří - Sebera, V. - Milch, J.
    Structural timber assessment and prediction of wood properties by means of acoustic and semi-destructive methods.
    Proceedings of the International conference on structural health assessment of timber structures, SHATiS’2019. Guimarães: Universidade do Minho, 2019 - (Branco, J.; Poletti, E.; Sousa, H.), s. 742-751. ISBN 978-989-54496-2-0.
    [International conference on structural health assessment of timber structures, SHATiS’2019 /5./. Guimarães (PT), 25.09.2019-27.09.2019]
    Grant CEP: GA MK(CZ) DG16P02M026
    Klíčová slova: spruce * logging * hewing * beam * assessment
    Obor OECD: Construction engineering, Municipal and structural engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0299862
     
     
  3. 3.
    0379919 - ÚPT 2013 RIV AU eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Neděla, Vilém - Konvalina, Ivo - Lencová, B. - Zlámal, J. - Jirák, J.
    New detection systems of secondary and backscattered electrons for environmental scanning electron microscopes.
    Coneference Proceedings APMC-10, ICONN 2012 and ACMM-22. Wembley: EECW Pty Ltd, 2012, 370:1-2. ISBN 978-1-74052-245-8.
    [Asia-Pacific Microscopy Conference (APMC-10) - International Conference on Nanoscience and Nanotechnology (ICONN 2012) - Australian Conference on Microscopy and Microanalysis (ACMM-22). Perth (AU), 05.02.2012-09.02.2012]
    Grant CEP: GA ČR GAP102/10/1410; GA MŠMT EE.2.3.20.0103
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: environmental scanning electron microscope * detection systems * secondary electrons * backscattered electrons
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0210770
     
     
  4. 4.
    0375054 - FZÚ 2012 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Fejfar, Antonín - Klapetek, P. - Zlámal, J. - Vetushka, Aliaksi - Ledinský, Martin - Kočka, Jan
    Microscopic characterizations of nanostructured silicon thin films for solar cells.
    Amorphous and Polycrystalline Thin-Film Silicon Science and Technology. Warrendale: MRS, 2011 - (Yan, B.; Higashi, S.; Tsai, C.; Wang, Q.; Gleskova, H.), s. 313-321. MRS Symposium Proceeding, 1321. ISBN 9781605112985.
    [Materials Research Society Spring Meeting. San Francisko (US), 25.04.2011-29.04.2011]
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06040; GA MŠMT(CZ) MEB061012; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510
    Grant ostatní: 7. Framework programme EU(XE) no. 240826
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: silicon * scanning probe methods * solar cells
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0207821
     
     
  5. 5.
    0353047 - ÚPT 2011 RIV BR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Zlámal, J. - Lencová, Bohumila
    Accurate and Easy-to-use Electron Optical Design Program for Microscopy.
    Proceedings of the 17th IFSM International Microscopy Congress. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanilise, 2010, I1.6:1-2. ISBN 978-85-63273-06-2.
    [International Microscopy Congress (IMC17) /17./. Rio de Janeiro (BR), 19.09.2010-24.09.2010]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100650805
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: EOD * FEM * Windows
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0192397
     
     
  6. 6.
    0315453 - ÚPT 2009 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Jánský, Pavel - Lencová, Bohumila - Zlámal, J.
    Numerical Simulations of Thermionic Electron Guns.
    [Numerické výpočty termoemisních elektronových trysek.]
    Proceedings of the 11th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2008 - (Mika, F.), s. 51-52. ISBN 978-80-254-0905-3.
    [International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /11./. Skalský dvůr (CZ), 14.07.2008-18.07.2008]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100650805
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: electron emission * electron gun * space charge * numerical simulations
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0165652
     
     
  7. 7.
    0315085 - ÚPT 2009 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Jánský, Pavel - Lencová, Bohumila - Zlámal, J.
    Accurate calculations of thermionic electron gun properties.
    [Přesné výpočty vlastností termoemisní elektronové trysky.]
    EMC 2008 - 14th European Microscopy Congress - Volume 1: Instrumentation and Methods. Berlin: Springer, 2008 - (Luysberg, M.; Tillmann, K.; Weirich, T.), s. 557-558. ISBN 978-3-540-85154-7.
    [EMC 2008 - European Microscopy Congress /14./. Aachen (DE), 01.09.2008-05.09.2008]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100650805
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: electron emission * electron gun * space charge
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0004856
     
     
  8. 8.
    0315082 - ÚPT 2009 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Neděla, Vilém - Jánský, Pavel - Lencová, Bohumila - Zlámal, J.
    Experimental and simulated signal amplification in variable pressure SEM.
    [Experimentální a simulované zesílení signálu v mikroskopu VP-SEM.]
    EMC 2008 - 14th European Microscopy Congress - Volume 1: Instrumentation and Methods. Berlin: Springer, 2008 - (Luysberg, M.; Tillmann, K.; Weirich, T.), s. 587-588. ISBN 978-3-540-85154-7.
    [EMC 2008 - European Microscopy Congress /14./. Aachen (DE), 01.09.2008-05.09.2008]
    Grant CEP: GA AV ČR KJB200650602
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: VP-SEM * gas ionisation cascade * EOD * Monte-Carlo
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0004853
     
     
  9. 9.
    0205615 - UPT-D 20020168 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Lencová, Bohumila - Zlámal, J. - Jánský, P.
    Programs for design of systems in particle optics.
    International summer school: Role of physics in future applications: from nanotechnology to macroelectronics. Tři Studně: VUT, 2002, s. -.
    [Role of physics in future applications: from nanotechnology to macroelectronics. Tři Studně (CZ), 10.06.2002-15.06.2002]
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
    Klíčová slova: particle optics * ion beam implantation * electron optical design
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101228
     
     
  10. 10.
    0205242 - UPT-D 20000018 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Lencová, Bohumila - Zlámal, J.
    New CAD program for design in electron optics.
    Proceedings of the 12th European Congress on Electron Microscopy. Brno: Czechoslovak Society for Electron Microscopy, 2000 - (Frank, L.; Čiampor, F.), s. I101-I102. ISBN 80-238-5503-4.
    [EUREM /12./ - European Congress on Electron Microscopy. Brno (CZ), 09.07.2000-14.07.2000]
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100860
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.