Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0315089 - ÚPT 2009 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Černoch, P. - Jirák, Josef
    Detection of Signal Electrons by Segmental Ionization Detector.
    [Detection of Signal Electrons by Segmental Ionization Detector.]
    EMC 2008 - 14th European Microscopy Congress - Volume 1: Instrumentation and Methods. Berlin: Springer, 2008 - (Luysberg, M.; Tillmann, K.; Weirich, T.), s. 537-538. ISBN 978-3-540-85154-7.
    [EMC 2008 - European Microscopy Congress /14./. Aachen (DE), 01.09.2008-05.09.2008]
    Grant CEP: GA AV ČR KJB200650602
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: segmental ionization detector * side detection
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0004860
     
     
  2. 2.
    0315080 - ÚPT 2009 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Jirák, Josef - Černoch, P. - Neděla, Vilém - Špinka, J.
    Scintillation SE Detector for Variable Pressure Scanning Electron Microscope.
    [Scintilační detektor sekundárních elektronů pro vysokotlaký rastrovací elektronový mikroskop.]
    EMC 2008 - 14th European Microscopy Congress - Volume 1: Instrumentation and Methods. Berlin: Springer, 2008 - (Luysberg, M.; Tillmann, K.; Weirich, T.), s. 559-560. ISBN 978-3-540-85154-7.
    [EMC 2008 - European Microscopy Congress /14./. Aachen (DE), 01.09.2008-05.09.2008]
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: VPSEM * secondary electrons detector * scintillatíon detector
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0004851
     
     
  3. 3.
    0309957 - ÚACH 2009 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Vognar, J. - Dvořák, P. - Černoch, P. - Novák, V. - Vondrák, Jiří - Sedlaříková, M.
    Electrochemical carbon study part I:enviromental SEM view.
    [Studium elektrochemie uhlíku, část I: pohled pomocí SEM.]
    ABA 2008. Brno: University of Technology Brno, 2008, s. 104-108. ISBN 978-80-214-3659-6.
    [International Conference Advanced Batteries and Accumulators /9./. Brno (CZ), 29.06.2008-03.07.2008]
    Grant CEP: GA MŽP SN/3/171/05; GA ČR(CZ) GA104/06/1471
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z40320502
    Klíčová slova: fuel cells
    Kód oboru RIV: CA - Anorganická chemie
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0161965
     
     
  4. 4.
    0109043 - UPT-D 20040044 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Jirák, Josef - Černoch, P. - Autrata, Rudolf
    Signal Detection Using Segmental Ionization Detector.
    [Detekce signálu použitím segmantového ionizačního detektoru.]
    Proceedings of the 9th International Seminar Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, 2004 - (Müllerová, I.), s. 37-38. ISBN 80-239-3246-2.
    [Recent Trends /9./ in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Skalský Dvůr (CZ), 12.07.2004-16.07.2004]
    Grant CEP: GA AV ČR IBS2065107
    Klíčová slova: signal detection * segmental ionization detector
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0016155
     
     
  5. 5.
    0092588 - ÚPT 2008 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Černoch, P. - Jirák, Josef
    Optimization of Secondary Electron Detection by Segmental lonization Detector in Environmental SEM.
    [Optimalizace detekce sekundárních elektronů segmentovým ionizačním detektorem v environmentálním REM.]
    Proceedings of the 8th Multinational Congress on Microscopy. Prague: Czechoslovak Microscopy Society, 2007 - (Nebesářová, J.; Hozák, P.), s. 79-80. ISBN 978-80-239-9397-4.
    [Multinational Congress on Microscopy /8./. Prague (CZ), 17.06.2007-21.06.2007]
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GA102/05/0886
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: secondary electron detection * segmental ionization detector * environmental SEM
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0152866
     
     
  6. 6.
    0092209 - ÚPT 2008 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Jirák, Josef - Linhart, Jan - Neděla, Vilém - Černoch, P. - Špinka, J.
    Scintillation Secondary Electron Detector in Environmental SEM.
    [Scintilační detektor sekundárních elektronů v EREM.]
    Proceedings of the 8th Multinational Congress on Microscopy. Prague: Czechoslovak Microscopy Society, 2007 - (Nebesářová, J.; Hozák, P.), s. 89-90. ISBN 978-80-239-9397-4.
    [Multinational Congress on Microscopy /8./. Prague (CZ), 17.06.2007-21.06.2007]
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GA102/05/0886
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: scintillation * secondary electron detector * environmental SEM
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0152595
     
     
  7. 7.
    0049491 - ÚPT 2007 RIV JP eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Černoch, P. - Jirák, Josef - Neděla, Vilém
    Signal Detection with Segmental lonization Detector.
    [Detekce signálu segmentovým ionizačním detektorem.]
    Proceedings of the 16th International Microscopy Congress - IMC16. Sapporo: Japanese Society of Microscopy, 2006, s. 981.
    [IMC16 - International Microscopy Congress /16./. Sapporo (JP), 03.09.2006-08.09.2006]
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GA102/05/0886
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: segmental ionization detector * image contrast * electrostatic field
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0139868
     
     
  8. 8.
    0049007 - ÚPT 2007 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Černoch, P. - Jirák, Josef
    Signal Detection with Segmental Ionization Detector.
    [Detekce signálu segmentovým ionizačním detektorem.]
    Proceedings of the 10th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: ISI AS CR, 2006 - (Müllerová, I.), s. 9-10. ISBN 80-239-6285-X.
    [Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /10./. Skalský dvůr (CZ), 22.05.2006-26.05.2006]
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GA102/05/0886
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: segmental ionization detector * image contrast * electrostatic field
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0139504
     
     
  9. 9.
    0022550 - ÚPT 2006 RIV SI eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Jirák, Josef - Černoch, P. - Autrata, Rudolf
    Segmental ionization detector in ESEM.
    [Segmentový ionizační detektor v ESEM.]
    Proceedings - 7th Multinational Congress on Microscopy (MCM 2005). Ljubljana: Jožef Stefan Institute, 2005, s. 367-368. ISBN 961-6303-69-4.
    [Multinational Congress on Microscopy /7./. Portorož (SI), 26.06.2005-30.06.2005]
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: ionization detector * signal level * image contrast
    Kód oboru RIV: BF - Elementární částice a fyzika vys. energií
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0111278
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.