Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0334118 - FZÚ 2010 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Pelka, J. B. - Sobierajski, R. - Klinger, D. - Paszkowicz, W. - Krzywinski, J. - Jurek, M. - Zymierska, D. - Wawro, A. - Petroutchik, A. - Juha, Libor - Hájková, Věra - Cihelka, Jaroslav - Chalupský, Jaromír - Burian, T. - Vyšín, Luděk - Toleikis, S. - Sokolowski-Tinten, K. - Stojanovic, N. - Zastrau, U. - London, R. - Hau-Riege, S. - Riekel, C. - Davies, R. - Burghammer, M. - Dynowska, E. - Szuszkiewicz, W. - Caliebe, W. - Nietubyc, R.
    Damage in solids irradiated by a single shot of XUV free-electron laser: irreversible changes investigated using X-ray microdiffraction, atomic force microscopy and Nomarski optical microscopy.
    [Poškození pevné látky ozářené jednotlivým impulzem XUV laseru s volnými elektrony: nevratné změny povrchu sledované pomocí rtg. mikrodifrakce, mikroskopie atomárních sil a Nomarského optické mikroskopie.]
    Radiation Physics and Chemistry. Roč. 78, Suppl. 10 (2009), S46-S52. ISSN 0969-806X. E-ISSN 1879-0895
    Grant CEP: GA AV ČR KAN300100702; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA MŠMT LA08024; GA AV ČR IAA400100701
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
    Klíčová slova: XUV FEL * radiation damage * ablation * structure modifications * x-ray diffraction
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Impakt faktor: 1.149, rok: 2009
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0178937
     
     
  2. 2.
    0334092 - FZÚ 2010 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Hau-Riege, S.P. - London, R.A. - Bionta, R.M. - Ryutov, D. - Soufli, R. - Bajt, S. - McKernan, M.A. - Baker, S. L. - Krzywinski, J. - Sobierajski, R. - Nietubyc, R. - Klinger, D. - Pelka, J. B. - Jurek, M. - Juha, Libor - Chalupský, Jaromír - Cihelka, Jaroslav - Hájková, Věra - Velyhan, Andriy - Krása, Josef - Tiedtke, K. - Toleikis, S. - Wabnitz, H. - Bergh, M. - Caleman, C. - Timneanu, N.
    Wavelength dependence of the damage threshold of inorganic materials under extreme-ultraviolet free-electron-laser irradiation.
    [Závislost prahu poškození anorganických materiálů ozářených XUV laserem s volnými elektrony.]
    Applied Physics Letters. Roč. 95, č. 11 (2009), 111104/1-111104/3. ISSN 0003-6951. E-ISSN 1077-3118
    Grant CEP: GA AV ČR KAN300100702; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA MŠMT LA08024; GA AV ČR IAA400100701
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
    Klíčová slova: damage threshold * silicon carbide * boron carbide * soft X-ray free-electron laser
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Impakt faktor: 3.554, rok: 2009
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0178918
     
     
  3. 3.
    0333898 - FZÚ 2010 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Klinger, D. - Sobierajski, R. - Nietubyc, R. - Krzywinski, J. - Pelka, J. - Juha, Libor - Jurek, M. - Zymierska, D. - Guizard, S. - Merdji, H.
    Surface modification of polymethylmethacrylate irradiated with 60 fs single laser pulses.
    [Modifikace povrchů poly(methylmetakrylát)u ozářeného 60-fs laserovými impulzy.]
    Radiation Physics and Chemistry. Roč. 78, Suppl. 10 (2009), S71-S74. ISSN 0969-806X. E-ISSN 1879-0895
    Grant CEP: GA AV ČR KAN300100702; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA MŠMT LA08024; GA AV ČR IAA400100701
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
    Klíčová slova: polymethylmethacrylate (PMMA) * IR laser ablation * femtosecond laser pulse
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Impakt faktor: 1.149, rok: 2009
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0178773
     
     
  4. 4.
    0132397 - FZU-D 990345 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
    Nietubyc, R. - Sobczak, E. - Šipr, Ondřej - Vackář, Jiří - Šimůnek, Antonín
    Electronic structure of silicon nitride.
    Journal of Alloys and Compounds. Roč. 286, - (1999), s. 148-152. ISSN 0925-8388. E-ISSN 1873-4669
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 0.932, rok: 1999
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0030424
     
     
  5. 5.
    0131348 - FZU-D 970281 RIV PL eng J - Článek v odborném periodiku
    Nietubyc, R. - Sobczak, E. - Šimůnek, Antonín - Vackář, Jiří - Šipr, Ondřej
    Partial probabilities of X-ray bremsstrahlung transitions.
    Acta Physica Polonica A. Roč. 91, č. 5 (1997), s. 841-846. ISSN 0587-4246. E-ISSN 1898-794X
    Grant CEP: GA AV ČR IAA1010717
    Impakt faktor: 0.311, rok: 1997
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0029420
     
     
  6. 6.
    0086012 - FZÚ 2008 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Hau-Riege, S.P. - London, R.A. - Bionta, R.M. - McKernan, M.A. - Baker, S. L. - Krzywinski, J. - Sobierajski, R. - Nietubyc, R. - Pelka, J. B. - Jurek, M. - Juha, Libor - Chalupský, Jaromír - Cihelka, Jaroslav - Hájková, Věra - Velyhan, Andriy - Krása, Josef - Kuba, J. - Tiedtke, K. - Toleikis, S. - Tschentscher, T. - Wabnitz, H. - Bergh, M. - Caleman, C. - Sokolowski-Tinten, K. - Stojanovic, N. - Zastrau, U.
    Damage threshold of inorganic solids under free-electron-laser irradiation at 32.5 nm wavelength.
    [Prahy poškození anorganických pevných látek ozářených laserem s volnými elektrony na vlnové délce 32,5 nm.]
    Applied Physics Letters. Roč. 90, č. 17 (2007), 173128/1-173128/3. ISSN 0003-6951. E-ISSN 1077-3118
    Grant CEP: GA MŠMT 1P04LA235; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA AV ČR KAN300100702
    Grant ostatní: European Commission(XE) RII-CT-2004-506008, IA-SFS; GA MŠk(CZ) 1K05026
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523; CEZ:AV0Z40400503
    Klíčová slova: free-electron laser, * soft X-rays * damage threshold, * laser-matter interaction * ablation
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Impakt faktor: 3.596, rok: 2007
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0148390
     
     
  7. 7.
    0086002 - FZÚ 2008 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Chalupský, Jaromír - Juha, Libor - Kuba, J. - Cihelka, Jaroslav - Hájková, Věra - Koptyaev, Sergey - Krása, Josef - Velyhan, Andriy - Bergh, M. - Caleman, C. - Hajdu, J. - Bionta, R.M. - Chapman, H. - Hau-Riege, S.P. - London, R.A. - Jurek, M. - Krzywinski, J. - Nietubyc, R. - Pelka, J. B. - Sobierajski, R. - Meyer-ter-Vehn, J. - Tronnier, A. - Sokolowski-Tinten, K. - Stojanovic, N. - Tiedtke, K. - Toleikis, S. - Tschentscher, T. - Wabnitz, H. - Zastrau, U.
    Characteristics of focused soft X-ray free-electron laser beam determined by ablation of organic molecular solids.
    [Stanovení charakteristik fokusovaného svazku rentgenového laseru s volnými elektrony pomocí ablace organických molekulárních materiálů.]
    Optics Express. Roč. 15, č. 10 (2007), s. 6036-6042. ISSN 1094-4087
    Grant CEP: GA MŠMT 1P04LA235; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA AV ČR KAN300100702
    Grant ostatní: GA MŠk(CZ) 1K05026
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523; CEZ:AV0Z40400503
    Klíčová slova: free-electron laser * soft X-rays * focusing * beam profile * ablation threshold * laser-matter interaction
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Impakt faktor: 3.709, rok: 2007
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0148382
     
     
  8. 8.
    0085913 - FZÚ 2008 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Krzywinski, J. - Sobierajski, R. - Jurek, M. - Nietubyc, R. - Pelka, J. B. - Juha, Libor - Bittner, Michal - Létal, V. - Vorlíček, Vladimír - Andrejczuk, A. - Feldhaus, J. - Keitel, B. - Saldin, E. - Schneidmiller, E.A. - Treusch, R. - Yurkov, M. V.
    Conductors, semiconductors and insulators irradiated with short-wavelength free-electron laser.
    [Odezva vodičů, polovodičů a izolantů na ozáření krátkovlnným laserem s volnými elektrony.]
    Journal of Applied Physics. Roč. 101, č. 4 (2007), 043107/1-043107/4. ISSN 0021-8979. E-ISSN 1089-7550
    Grant CEP: GA MŠMT 1P04LA235; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
    Klíčová slova: free-electron laser * extreme ultraviolet * ablation * laser-matter interaction
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Impakt faktor: 2.171, rok: 2007
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0148324
     
     
  9. 9.
    0085905 - FZÚ 2008 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Hau-Riege, S.P. - Chapman, H.N. - Krzywinski, J. - Sobierajski, R. - Bajt, S. - London, R.A. - Bergh, M. - Caleman, C. - Nietubyc, R. - Juha, Libor - Kuba, J. - Spiller, E. - Baker, S. - Bionta, R. - Sokolowski-Tinten, K. - Stojanovic, N. - Kjornrattanawanich, B. - Gullikson, E. - Plonjes, E. - Toleikis, S. - Tschentscher, T.
    Subnanometer-scale measurements of the interaction of ultrafast soft X-ray free-electron-laser pulses with matter.
    [Subnanometrová měření interakce ultrarychlých rentgenových pulzů laseru na volných elektronech s hmotou.]
    Physical Review Letters. Roč. 98, č. 14 (2007), 145502/1-145502/4. ISSN 0031-9007. E-ISSN 1079-7114
    Grant CEP: GA MŠMT 1P04LA235; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
    Klíčová slova: free-electron laser * soft X-rays * multilayers * laser-matter interaction * warm dense matter
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Impakt faktor: 6.944, rok: 2007
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0148318
     
     
  10. 10.
    0053581 - FZÚ 2007 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Stojanovic, N. - von der Linde, D. - Sokolowski-Tinten, K. - Zastrau, U. - Perner, F. - Förster, E. - Sobierajski, R. - Nietubyc, R. - Jurek, M. - Klinger, D. - Pelka, J. - Krzywinski, J. - Juha, Libor - Cihelka, Jaroslav - Velyhan, Andriy - Koptyaev, Sergey - Hájková, Věra - Chalupský, Jaromír - Kuba, J. - Tschentscher, T. - Toleikis, S. - Dusterer, S. - Redlin, H.
    Ablation of solids using a femtosecond extreme ultraviolet free electron.
    [Ablace pevných látek využívající femtosekundového extrémně ultrafialového laseru na volných elektronech.]
    Applied Physics Letters. Roč. 89, č. 24 (2006), 241909/1-241909/3. ISSN 0003-6951. E-ISSN 1077-3118
    Grant CEP: GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA MŠMT 1P04LA235; GA MŠMT(CZ) 1K05026
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523; CEZ:AV0Z40400503
    Klíčová slova: XUV laser, free-electron laser, radiation damage, materials ablation, Si, GaAs * free-electron laser * radiation damage * materials ablation * Si * GaAs
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Impakt faktor: 3.977, rok: 2006
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0141803
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.