Výsledky vyhledávání
- 1.0179050 - UFP-V 20020067 US eng P - Patentový dokument
Sampath, S. - Matějíček, Jiří
Method and Apparatus for Determining Process-Induced Stresses and Modulus of Coatings by in-situ Measurement.
Stony Brook, NY, US: The Research Foundation of State University of New York, 2002. 20000303. Datum udělení patentu: 20021112. 12 s. Číslo patentu: 6478875
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2043910
Klíčová slova: determining process
Kód oboru RIV: JB - Senzory, čidla, měření a regulace
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0075863