Výsledky vyhledávání
- 1.0132636 - FZU-D 990058 RIV SK eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Jiříček, Petr
Measurement of the inelestic mean free path of electrns in copper and copper oxides.
80-227-1010-5. In: New Trends in Surface Analysis. Bratislava: Slovak University of Technology. Faculty of Electrical Engineering and Information Technology. Microelectronics department, 1997 - (Breza, J.; Liday, J.; Frank, L.; Král, J.; Zemek, J.), s. 27-30. Proceedings of the International Seminar.
[NTSA 97 - New Trends in Surface Analysis. Bratislava (SK), 26.11.1997-28.11.1997]
Grant CEP: GA ČR GA202/95/0032
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0030647 - 2.0132111 - FZU-D 980413 RIV GB eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Zemek, Josef - Hucek, Stanislav - Jablonski, A. - Tilinin, I. S.
Escape probability of 0 1s photoelectrons leaving aluminium oxide.
Proceedings of European Conference on Applied Surface and Interface Analysis- ECASIA 97. Chichester: John Wiley and Sons, Ltd., 1997 - (Olefjord, I.; Nyborg, L.; Briggs, D.), s. 840-843. 0 471 978 27 2.
[NTSA 97 - New Trends in Surface Analysis. Bratislava (SK), 26.11.1997-28.11.1997]
Grant CEP: GA ČR GA202/95/0032
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0030148