Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0303624 - URE-Y 20000067 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Czajka, R. - Horák, Jaromír - Lošťák, P. - Karamazov, S. - Vaniš, Jan - Walachová, Jarmila
    Characterization and nanometer-scale modifications of Bi2Te3 surface via atomic force mircoscopy.
    Journal of Vacuum Science & Technology A : Vacuum, Surfaces and Films. Roč. 18, May/June (2000), s. 1194-1197. ISSN 0734-2101. E-ISSN 1520-8559
    Grant CEP: GA ČR GA102/97/0427
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2067918
    Klíčová slova: nanostructured materials * semiconductor materials * thermoelectric devices
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 1.569, rok: 2000
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0113812
     
     
  2. 2.
    0303403 - URE-Y 990025 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Walachová, Jarmila - Zelinka, Jiří - Vaniš, Jan - Karamazov, Simeon - Cukr, Miroslav - Zich, P. - Chow, D. H. - McGill, T. C.
    Testing of resonant tunneling double barrier heterostructures by BEEM/BEES.
    Czechoslovak Journal of Physics. Roč. 49, č. 5 (1999), s. 833-836. ISSN 0011-4626.
    [Czech-Chinese Workshop on Advanced Materials for Optoelectronics - AMFO'98. Prague, 15.06.1998-17.06.1998]
    Grant CEP: GA ČR GA102/97/0427
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2067918
    Klíčová slova: nanostructured materials * spectroscopy * semiconductor quantum wells
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 0.328, rok: 1999
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0003134
     
     
  3. 3.
    0303182 - URE-Y 980116 RIV PL eng J - Článek v odborném periodiku
    Walachová, Jarmila
    Some applications of ballistic electron emission microscopy/spectroscopy.
    Acta Physica Polonica A. Roč. 93, č. 2 (1998), s. 365-372. ISSN 0587-4246. E-ISSN 1898-794X.
    [Scanning Probe Spectroscopy and Related Methods - SPS'97 /1./. Poznan, 15.07.1997-18.07.1997]
    Grant CEP: GA ČR GA102/97/0427
    Klíčová slova: field emission electron microscopes * nanostructured materials * Schottky effect
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 0.344, rok: 1998
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0113428
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.