Výsledky vyhledávání
- 1.0205695 - UPT-D 20030078 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Lazar, Josef - Číp, Ondřej - Růžička, Bohdan
The design of a compact and tunable extended-cavity semiconductor laser.
Measurement Science and Technology. Roč. 15, č. 1 (2004), s. N6 - N9. ISSN 0957-0233. E-ISSN 1361-6501
Grant CEP: GA ČR GP102/02/P122; GA AV ČR IAA2065803; GA ČR GA101/01/1104; GA AV ČR IBS2065009; GA AV ČR IAB2065001
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: frequency stabilization * line narrowing * semiconductor laser
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 1.118, rok: 2004
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101308 - 2.0205662 - UPT-D 20030044 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Lazar, Josef - Jedlička, Petr - Číp, Ondřej - Růžička, Bohdan
Laser diode current controller with a high level of protection against electromagnetic interference.
Review of Scientific Instruments. Roč. 74, č. 8 (2003), s. 3816 - 3819. ISSN 0034-6748. E-ISSN 1089-7623
Grant CEP: GA AV ČR IBS2508201; GA AV ČR IAA2065803; GA ČR GA101/01/1104; GA AV ČR IBS2065009
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: laser diode * electromagnetic interference * ripple free voltage
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 1.343, rok: 2003
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101275 - 3.0205521 - UPT-D 20020071 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Franta, D. - Ohlídal, I. - Klapetek, P. - Pokorný, Pavel
Characterization of the boundaries of thin films of TiO2 by atomic force microscopy and optical methods.
Surface and Interface Analysis. Roč. 34, - (2002), s. 759 - 762. ISSN 0142-2421. E-ISSN 1096-9918
Grant CEP: GA ČR GA101/01/1104
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: optical characterization * TiO2 thin films * bonduary roughness
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 1.071, rok: 2002
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101134 - 4.0205473 - UPT-D 20020023 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Klapetek, P. - Ohlídal, I. - Franta, D. - Pokorný, Pavel
Analysis of the boundaries of ZrO2 and HfO2 thin films by atomic force microscopy and the combined optical method.
Surface and Interface Analysis. Roč. 34, - (2002), s. 559 - 564. ISSN 0142-2421. E-ISSN 1096-9918
Grant CEP: GA ČR GA101/01/1104; GA ČR GA202/01/1110
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: rough upper boundaries * optical methods * ZrO2 and HfO2 film
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 1.071, rok: 2002
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101086