Výsledky vyhledávání
- 1.0205609 - UPT-D 20020159 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Lazar, Josef - Číp, Ondřej - Jedlička, Petr - Růžička, Bohdan
Extended cavity semiconductor lasers in fundamental metrology.
Proceedings of SPIE - The International society for optical engineering. Novosibirsk: SPIE, 2002, s. 132 - 138. ISBN 0-8194-4686-6. ISSN 0277-786X.
[International symposium on laser metrology applied to science, industry, and everyday life. Novosibirsk (RU), 09.09.2002-13.09.2002]
Grant CEP: GA ČR GA101/01/1104; GA AV ČR IBS2065009; GA AV ČR IAB2065001
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: semiconductor lasers * frequency stabilization * absorption spectroscopy
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101222