Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0050988 - ÚPT 2007 cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
    Konvalina, Ivo
    Kvantifikace detekční účinnosti detektoru sekundárních elektronů v REM.
    [The quantification of the detection efficiency of the secondary electron detector in SEM.]
    PDS 2006 - Sborník prací doktorandů oboru Elektronová optika. Brno: ÚPT AV ČR, 2006, s. 25-28. ISBN 80-239-7957-4.
    [PDS 2006. Brno (CZ), 19.12.2006]
    Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327
    Klíčová slova: collection efficiency * ET detector * secondary electrons
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0140990
     
     
  2. 2.
    0022852 - ÚPT 2006 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
    Mika, Filip - Frank, Luděk
    Kvantifikace hustoty rozložení dopantu v polovodiči s pomocí REM.
    [Quantification of the dopant in semiconductor in SEM.]
    Mikroskopie 2005. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2005, s. 41.
    [Mikroskopie 2005. Nové Město na Moravě (CZ), 24.2.2005-25.2.2005]
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GA102/05/2327
    Klíčová slova: dopant * semiconductor * se kontrast
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0111562