Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0308565 - ÚPT 2008 RIV CZ cze J - Článek v odborném periodiku
    Konvalina, Ivo - Müllerová, Ilona
    Obrazy ze sekundárních elektronů v rastrovacich elektronových mikroskopech.
    [Micrographs of secondary electrons in the scanning electron microscopes.]
    Jemná mechanika a optika. Roč. 53, č. 2 (2008), s. 57-59. ISSN 0447-6441
    Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: ET detector * secondary electrons * collection efficiency * electrostatic and magnetic field
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0161002
     
     
  2. 2.
    0308203 - ÚPT 2008 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Hovorka, Miloš - Frank, Luděk - Valdaitsev, D. - Nepijko, S. - Elmers, H. - Schönhense, G.
    High-pass energy-filtered photoemission electron microscopy imaging of dopants in silicon.
    [Studium vlastností dotovaného křemíku pomocí fotoemisní elektronové mikroskopie s využitím energiového filtru.]
    Journal of Microscopy. Roč. 230, č. 1 (2008), s. 42-47. ISSN 0022-2720. E-ISSN 1365-2818
    Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: dopants * energy-filtered imaging * PEEM * silicon
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 1.409, rok: 2008
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0160757
     
     
  3. 3.
    0308202 - ÚPT 2008 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Mika, Filip - Frank, Luděk
    Two-dimensional dopant profiling with low energy SEM.
    [Tvorba dvourozměrných profilů dopantu s níkoenergiovým SEM.]
    Journal of Microscopy. Roč. 230, č. 1 (2008), s. 76-83. ISSN 0022-2720. E-ISSN 1365-2818
    Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: dopant contrast * low energy SEM * semiconductors
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 1.409, rok: 2008
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0160756
     
     
  4. 4.
    0088945 - ÚPT 2008 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Müllerová, Ilona - Matsuda, K. - Hrnčiřík, Petr - Frank, Luděk
    Enhancement of SEM to scanning LEEM.
    [Rozšíření SEM na rastrovací LEEM.]
    Surface Science. Roč. 601, č. 20 (2007), s. 4768-4773. ISSN 0039-6028. E-ISSN 1879-2758
    Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327; GA ČR GA202/04/0281
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: SEM * LEEM * scanning LEEM
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 1.855, rok: 2007
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0150316
     
     
  5. 5.
    0082250 - ÚPT 2007 RIV JP eng J - Článek v odborném periodiku
    Müllerová, Ilona - Konvalina, Ivo - Frank, Luděk
    Acquisition of the Angular Distribution of Backscattered Electrons at Low Energies.
    [Snímání úhlového rozdělení zpětně odražených elektronů při nízkých energiích.]
    Materials Transactions. Roč. 48, č. 5 (2007), s. 940-943. ISSN 1345-9678. E-ISSN 1347-5320
    Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327; GA ČR GA202/04/0281
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: angular distribution of backscattered electrons * scanning electron microscopy * low energy electron microscopy * cathode lens principle * multichannel detection of electrons * crystallinic contrast
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 1.018, rok: 2007
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0145866
     
     
  6. 6.
    0082249 - ÚPT 2007 RIV JP eng J - Článek v odborném periodiku
    Frank, Luděk - Müllerová, Ilona - Matsuda, K. - Ikeno, S.
    Cathode Lens Mode of the SEM in Materials Science Applications.
    [Použití režimu katodové čočky v REM v materiálových vědách.]
    Materials Transactions. Roč. 48, č. 5 (2007), s. 944-948. ISSN 1345-9678. E-ISSN 1347-5320
    Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327; GA ČR GA202/04/0281
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: electron microscopy of materials * scanning electron microscopy * low energy electron microscopy * cathode lens
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 1.018, rok: 2007
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0145865
     
     
  7. 7.
    0044292 - ÚPT 2007 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Müllerová, Ilona - Konvalina, Ivo
    Multi-Channel Detection of the Angular Distribution of Backscattered Electrons in the Scanning Low Energy Electron Microscope.
    [Mnohakanálová detekce úhlového rozdělení zpětně odražených elektronů v rastrovacím nízkoenergiovém elektronovém mikroskopu.]
    Microscopy and Microanalysis. Roč. 12, Suppl. 2 (2006), CD:1438-1439. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115
    Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: BSE detection * multi-channel detector * cathode lens * angular distribution
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 2.108, rok: 2006
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0137114
     
     
  8. 8.
    0043768 - ÚPT 2007 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Konvalina, Ivo - Müllerová, Ilona
    The Trajectories of Secondary Electrons in the Scanning Electron Microscope.
    [Trajektorie sekundárních elektronů v rastrovacím elektronovém mikroskopu.]
    Scanning. Roč. 28, č. 5 (2006), s. 245-256. ISSN 0161-0457. E-ISSN 1932-8745
    Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: ET detector * secondary electrons * collection efficiency
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 0.462, rok: 2006
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0136679