Výsledky vyhledávání
- 1.0094360 - ÚPT 2008 RIV JP eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Müllerová, Ilona
Applications of the scanning low energy electron microscopy in materials science.
[Použití rastrovací nízkoenergiové elektronové mikroskopie v materiálových vědách.]
Proceedings of 2007 Japan-China-Australia Cooperative Symposium on Materials Science and Nanotechnology. Toyama: IKENO Laboratory, University of Toyama, 2007 - (Nishimura, K.; Matsuda, K.), s. 11-12. ISBN 978-4-9903248-1-0.
[Japan-China-Australia Cooperative Symposium on Materials Science and Nanotechnology 2007. Toyama (JP), 14.11.2007-17.11.2007]
Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: low energies * contrast formation * multi-channel detection
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0154187 - 2.0092590 - ÚPT 2008 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Mika, Filip - Frank, Luděk
Dynamic Behaviour of the Dopant Contrast in LVSEM.
[Dynamické chování kontrastu dopantů v LVSEM.]
Proceedings of the 8th Multinational Congress on Microscopy. Prague: Czechoslovak Microscopy Society, 2007 - (Nebesářová, J.; Hozák, P.), s. 95-96. ISBN 978-80-239-9397-4.
[Multinational Congress on Microscopy /8./. Prague (CZ), 17.06.2007-21.06.2007]
Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: dopant contrast * LVSEM * secondary electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0152868 - 3.0092207 - ÚPT 2008 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Konvalina, Ivo - Hovorka, Miloš - Wandrol, Petr - Mika, Filip - Müllerová, Ilona
Detection Strategies for Collection of Secondary Electrons in SEM.
[Detekční strategie pro sběr sekundárních elektronů v REM.]
Proceedings of the 8th Multinational Congress on Microscopy. Prague: Czechoslovak Microscopy Society, 2007 - (Nebesářová, J.; Hozák, P.), s. 91-92. ISBN 978-80-239-9397-4.
[Multinational Congress on Microscopy /8./. Prague (CZ), 17.06.2007-21.06.2007]
Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: detection * secondary electrons * SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0152593 - 4.0092206 - ÚPT 2008 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Matsuda, K.
Parallel Acquisition of the Angular Distribution of BSE in SEM.
[Paralelní snímání úhlového rozložení zpětně odražených elektronů v rastrovacím elektronovém mikroskopu.]
Proceedings of the 8th Multinational Congress on Microscopy. Prague: Czechoslovak Microscopy Society, 2007 - (Nebesářová, J.; Hozák, P.), s. 27-28. ISBN 978-80-239-9397-4.
[Multinational Congress on Microscopy /8./. Prague (CZ), 17.06.2007-21.06.2007]
Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: parallel acquisition * angular distribution * BSE * SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0152592 - 5.0092205 - ÚPT 2008 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Novák, Libor - Müllerová, Ilona
Signal Processing of Secondary Electron Images in SEM.
[Článek charakterizuje způsoby zavedení rastrovací verze LEEM do konvenčního SEM prostřednictvím vložení katodové čočky pod objektiv přístroje. Shrnuty jsou základní vlastnosti rastrovacího LEEMu.]
Proceedings of the 8th Multinational Congress on Microscopy. Prague: Czechoslovak Microscopy Society, 2007 - (Nebesářová, J.; Hozák, P.), s. 99-100. ISBN 978-80-239-9397-4.
[Multinational Congress on Microscopy /8./. Prague (CZ), 17.06.2007-21.06.2007]
Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: signal processing * secondary electron images * SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0152591 - 6.0051198 - ÚPT 2007 RIV JP eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Müllerová, Ilona - Hrnčiřík, Petr
Scanning Alternative to the LEEM.
[Rastrující provedení metody LEEM.]
The 5th International Conference on LEEM/PEEM. Himeji: JSRRI, 2006, s. 26.
[LEEM/PEEM /5./. Himeji (JP), 15.10.2006-19.10.2006]
Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: LEEM * SLEEM * cathode lens * low energy electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0141121 - 7.0050937 - ÚPT 2007 RIV JP eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Müllerová, Ilona - Konvalina, Ivo - Pokorná, Zuzana
Acquisition of the Angular Distribution of Backscattered Electrons in the Scanning Low Energy Electron Microscope.
[Snímání úhlového rozdělení zpětně odražených elektronů v rastrovacím nízkoenergiovém elektronovém mikroskopu.]
6th Japanese-Polish Joint Seminar on Materials Analysis. Toyama: University of Toyama, 2006, s. 13-14. ISBN 4-9903248-0-3.
[Japanese-Polish Joint Seminar on Materials Analysis /6./. Toyama (JP), 11.09.2006-13.09.2006]
Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: SLEEM * cathode lens * multichannel detector * angular distribution * BSE detection
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0140960 - 8.0050901 - ÚPT 2007 RIV JP eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Müllerová, Ilona
Scanning Low Energy Electron Microscopy.
[Rastrovací nízkoenergiová elektronová mikroskopie.]
Proceedings of the 16th International Microscopy Congress - IMC16 (Vol. 2). Sapporo: Japanese Society of Microscopy, 2006, s. 651.
[IMC16 - International Microscopy Congress /16./. Sapporo (JP), 03.09.2006-08.09.2006]
Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: scanning electron microscopy * cathode lens mode * very low energies
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0140934 - 9.0049017 - ÚPT 2007 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Müllerová, Ilona
Cathode Lens Mode in the Scanning Electron Microscope.
[Režim katodové čočky v rastrovacím elektronovém mikroskopu.]
Proceedings of the 10th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: ISI AS CR, 2006 - (Müllerová, I.), s. 49-52. ISBN 80-239-6285-X.
[Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /10./. Skalský dvůr (CZ), 22.05.2006-26.05.2006]
Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: cathode lens mode * SEM * very slow electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0139514 - 10.0022405 - ÚPT 2006 RIV CH eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Müllerová, Ilona
What can we see at very low energies in the Scanning Electron Microscope?
[Co můžeme vidět v rastrovacím elektronovém mikroskopu na velmi nízkých energiích?]
Proceedings - Microscopy Conference 2005 - Dreiländertagung /6./. Villigen: Paul Scherrer Institute, 2005, s. 51. ISBN N. ISSN 1019-6447.
[Dreiländertagung Microscopy Conference (MC 2005). Davos (CH), 28.08.2005-02.09.2005]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA102/05/2327
Klíčová slova: low energy electrons * detection system * scanning elektron microscope
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0111145