Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0094360 - ÚPT 2008 RIV JP eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Müllerová, Ilona
    Applications of the scanning low energy electron microscopy in materials science.
    [Použití rastrovací nízkoenergiové elektronové mikroskopie v materiálových vědách.]
    Proceedings of 2007 Japan-China-Australia Cooperative Symposium on Materials Science and Nanotechnology. Toyama: IKENO Laboratory, University of Toyama, 2007 - (Nishimura, K.; Matsuda, K.), s. 11-12. ISBN 978-4-9903248-1-0.
    [Japan-China-Australia Cooperative Symposium on Materials Science and Nanotechnology 2007. Toyama (JP), 14.11.2007-17.11.2007]
    Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: low energies * contrast formation * multi-channel detection
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0154187
     
     
  2. 2.
    0092590 - ÚPT 2008 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Mika, Filip - Frank, Luděk
    Dynamic Behaviour of the Dopant Contrast in LVSEM.
    [Dynamické chování kontrastu dopantů v LVSEM.]
    Proceedings of the 8th Multinational Congress on Microscopy. Prague: Czechoslovak Microscopy Society, 2007 - (Nebesářová, J.; Hozák, P.), s. 95-96. ISBN 978-80-239-9397-4.
    [Multinational Congress on Microscopy /8./. Prague (CZ), 17.06.2007-21.06.2007]
    Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: dopant contrast * LVSEM * secondary electrons
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0152868
     
     
  3. 3.
    0092207 - ÚPT 2008 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Konvalina, Ivo - Hovorka, Miloš - Wandrol, Petr - Mika, Filip - Müllerová, Ilona
    Detection Strategies for Collection of Secondary Electrons in SEM.
    [Detekční strategie pro sběr sekundárních elektronů v REM.]
    Proceedings of the 8th Multinational Congress on Microscopy. Prague: Czechoslovak Microscopy Society, 2007 - (Nebesářová, J.; Hozák, P.), s. 91-92. ISBN 978-80-239-9397-4.
    [Multinational Congress on Microscopy /8./. Prague (CZ), 17.06.2007-21.06.2007]
    Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: detection * secondary electrons * SEM
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0152593
     
     
  4. 4.
    0092206 - ÚPT 2008 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Matsuda, K.
    Parallel Acquisition of the Angular Distribution of BSE in SEM.
    [Paralelní snímání úhlového rozložení zpětně odražených elektronů v rastrovacím elektronovém mikroskopu.]
    Proceedings of the 8th Multinational Congress on Microscopy. Prague: Czechoslovak Microscopy Society, 2007 - (Nebesářová, J.; Hozák, P.), s. 27-28. ISBN 978-80-239-9397-4.
    [Multinational Congress on Microscopy /8./. Prague (CZ), 17.06.2007-21.06.2007]
    Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: parallel acquisition * angular distribution * BSE * SEM
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0152592
     
     
  5. 5.
    0092205 - ÚPT 2008 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Novák, Libor - Müllerová, Ilona
    Signal Processing of Secondary Electron Images in SEM.
    [Článek charakterizuje způsoby zavedení rastrovací verze LEEM do konvenčního SEM prostřednictvím vložení katodové čočky pod objektiv přístroje. Shrnuty jsou základní vlastnosti rastrovacího LEEMu.]
    Proceedings of the 8th Multinational Congress on Microscopy. Prague: Czechoslovak Microscopy Society, 2007 - (Nebesářová, J.; Hozák, P.), s. 99-100. ISBN 978-80-239-9397-4.
    [Multinational Congress on Microscopy /8./. Prague (CZ), 17.06.2007-21.06.2007]
    Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: signal processing * secondary electron images * SEM
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0152591
     
     
  6. 6.
    0051198 - ÚPT 2007 RIV JP eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Müllerová, Ilona - Hrnčiřík, Petr
    Scanning Alternative to the LEEM.
    [Rastrující provedení metody LEEM.]
    The 5th International Conference on LEEM/PEEM. Himeji: JSRRI, 2006, s. 26.
    [LEEM/PEEM /5./. Himeji (JP), 15.10.2006-19.10.2006]
    Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: LEEM * SLEEM * cathode lens * low energy electrons
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0141121
     
     
  7. 7.
    0050937 - ÚPT 2007 RIV JP eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Müllerová, Ilona - Konvalina, Ivo - Pokorná, Zuzana
    Acquisition of the Angular Distribution of Backscattered Electrons in the Scanning Low Energy Electron Microscope.
    [Snímání úhlového rozdělení zpětně odražených elektronů v rastrovacím nízkoenergiovém elektronovém mikroskopu.]
    6th Japanese-Polish Joint Seminar on Materials Analysis. Toyama: University of Toyama, 2006, s. 13-14. ISBN 4-9903248-0-3.
    [Japanese-Polish Joint Seminar on Materials Analysis /6./. Toyama (JP), 11.09.2006-13.09.2006]
    Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: SLEEM * cathode lens * multichannel detector * angular distribution * BSE detection
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0140960
     
     
  8. 8.
    0050901 - ÚPT 2007 RIV JP eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Müllerová, Ilona
    Scanning Low Energy Electron Microscopy.
    [Rastrovací nízkoenergiová elektronová mikroskopie.]
    Proceedings of the 16th International Microscopy Congress - IMC16 (Vol. 2). Sapporo: Japanese Society of Microscopy, 2006, s. 651.
    [IMC16 - International Microscopy Congress /16./. Sapporo (JP), 03.09.2006-08.09.2006]
    Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: scanning electron microscopy * cathode lens mode * very low energies
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0140934
     
     
  9. 9.
    0049017 - ÚPT 2007 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Müllerová, Ilona
    Cathode Lens Mode in the Scanning Electron Microscope.
    [Režim katodové čočky v rastrovacím elektronovém mikroskopu.]
    Proceedings of the 10th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: ISI AS CR, 2006 - (Müllerová, I.), s. 49-52. ISBN 80-239-6285-X.
    [Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /10./. Skalský dvůr (CZ), 22.05.2006-26.05.2006]
    Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: cathode lens mode * SEM * very slow electrons
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0139514
     
     
  10. 10.
    0022405 - ÚPT 2006 RIV CH eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Müllerová, Ilona
    What can we see at very low energies in the Scanning Electron Microscope?
    [Co můžeme vidět v rastrovacím elektronovém mikroskopu na velmi nízkých energiích?]
    Proceedings - Microscopy Conference 2005 - Dreiländertagung /6./. Villigen: Paul Scherrer Institute, 2005, s. 51. ISBN N. ISSN 1019-6447.
    [Dreiländertagung Microscopy Conference (MC 2005). Davos (CH), 28.08.2005-02.09.2005]
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GA102/05/2327
    Klíčová slova: low energy electrons * detection system * scanning elektron microscope
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0111145