Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0205683 - UPT-D 20030065 CZ eng A - Abstrakt
    Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
    Examination of electronic structures and materials in scanning low energy electron microscope (SLEEM).
    Abstract Booklet of the International Conference NANO'03. Brno: FS VUT Brno, 2003 - (Šandera, P.). s. 26. ISBN 80-214-2486-9.
    [NANO'03. 21.09.2003-23.09.2003, Brno]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA1065304
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
    Klíčová slova: scanning electron microscope * primary beam energies * objective lenses
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101296