Výsledky vyhledávání
Váš dotaz:
Autor = "^kolařík vladimír upt d^" NEBO Autor = "^knápek alexandr upt d^" NEBO Autor = "^horáček miroslav upt d^" NEBO Autor = "^matějka milan upt d^" NEBO Autor = "^krátký stanislav upt d^" NEBO Autor = "^brunn ondřej upt d^" NEBO Autor = "^burda daniel upt d^" NEBO Autor = "^sadílek jakub upt d^" A Rok sběru = "2023"
- 1.0570633 - ÚPT 2023 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Pavlačík, P. - Škoda, D. - Matějka, Milan
Matrice s difraktivními prvky přizpůsobená více násobné výrobě záměrných křížů ve sportovní a vojenské optice.
[Matrix with diffractive elements adapted to multiple production of intentional crosses in sports and military optics.]
Interní kód: APL-2021-17 ; 2021
Technické parametry: Matrice pro realizaci difraktivní mřížky záměrného kříže. Periodická submikrometrová struktura účinně zesilující laserový svazek v 1. difraktivním řádu. Tento design vede ke snížení energetické náročnosti osvětlovacího modulu záměrného kříže.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Milan Matějka, Ph.D., mmatejka@isibrno.cz
Grant CEP: GA MPO(CZ) FV40197
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: nanoimprint * NIL * reticle * diffractive pattern
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0341939 - 2.0570569 - ÚPT 2023 RIV CZ cze J - Článek v odborném periodiku
Matějka, Milan - Kolařík, Vladimír - Pavlačík, P. - Škoda, D. - Brunn, Ondřej - Sadílek, Jakub
Difraktivní optický element pro realizaci svítícího bodu v záměrném kříži pro puškohledovou optiku.
[Diffractive optical element for creating a illuminated point in a reticle for rifle scopes.]
Jemná mechanika a optika. Roč. 68, č. 4 (2023), s. 87-90. ISSN 0447-6441
Grant CEP: GA MPO(CZ) FV40197
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: diffractive optical elements * electron beam lithography * reactive ion etching * sports optics
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Způsob publikování: Omezený přístup
https://jmo.fzu.cz/sites/jmo.fzu.cz/files/oldweb/2023/2023-04/jmo_23_04_obsah.pdf
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0341873 - 3.0568824 - ÚPT 2023 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Burda, Daniel - Knápek, Alexandr
Effect Of Al2O3 Barrier On The Field Emission Properties Of Tungsten Single-Tip Field Emitters.
Proceedings II of the 28th Conference STUDENT EEICT 2022. Selected Papers. Brno: Brno University of Technology, Faculty of Electrical Engineering and Communication, 2022 - (Novák, V.), s. 255-258. ISBN 978-80-214-6030-0. ISSN 2788-1334.
[STUDENT EEICT 2022 /28./. Brno (CZ), 26.04.2022-26.04.2022]
Výzkumná infrastruktura: CzechNanoLab - 90110
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: Cold field emission * single-tip field emitters * tungsten tip * aluminum oxide * dielectric coatings * Murphy-Good plot
Obor OECD: Particles and field physics
https://www.eeict.cz/eeict_download/archiv/sborniky/EEICT_2022_sbornik_2_v3.pdf
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0340092 - 4.0568602 - ÚPT 2023 CZ eng A - Abstrakt
Krutil, Vojtěch - Dupák, Libor - Fořt, Tomáš - Matějka, Milan - Srnka, Aleš - Vlček, Ivan - Urban, Pavel
Cryogenic Sample Holder with Electrical Contacts for UHV SEM/SPM.
16th Multinational Congress on Microscopy, 16MCM, 04-09 September 2022, Brno, Czech Republic. Book of abstracts. Brno: Czechoslovak Microscopy Society, 2022 - (Krzyžánek, V.; Hrubanová, K.; Hozák, P.; Müllerová, I.; Šlouf, M.). s. 142-143. ISBN 978-80-11-02253-2.
[Multinational Congress on Microscopy /16./. 04.09.2022-09.09.2022, Brno]
Grant CEP: GA TA ČR TE01020233
Institucionální podpora: RVO:68081731
https://www.16mcm.cz/wp-content/uploads/2022/09/16MCM-abstract-book.pdf
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0339871 - 5.0567776 - ÚPT 2023 RIV CZ cze C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Krátký, Stanislav - Kolařík, Vladimír - Mikel, Břetislav - Helán, R. - Urban, F.
Příprava fázových binárních mřížek pomocí elektronové litografie a reaktivního iontového leptání pro výrobu optických vláknových senzorů.
[Binary phase masks fabrication using the method of e-beam lithography and reactive ion etching for optical fiber sensors manufacturing.]
LA62. Sborník příspěvků multioborové konference LASER62. Brno: Ústav přístrojové techniky AV ČR, 2022 - (Růžička, B.), s. 43-44. ISBN 978-80-87441-30-5.
[LASER62. Lednice (CZ), 09.11.2022-11.11.2022]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) FW01010379
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: Binary phase gratings * e-beam lithography * reactive ion etching * optical fiber sensors * diffraction grating
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0339029 - 6.0567629 - ÚPT 2023 CZ eng A - Abstrakt
Podstránský, Jáchym - Drozd, Michal - Knápek, Alexandr
Automated defectoscopy of thin poly(methyl methacrylate) layers.
IMAPS Flash Conference, 8th International Microelectronics Assembly and Packaging Society Flash Conference. Extended abstracts. Brno: Brno University of Technology, 2022 - (Otáhal, A.; Szendiuch, I.; Skácel, J.). s. 41-42. ISBN 978-80-214-6111-6.
[IMAPS Flash Conference 2022. International Microelectronics Assembly and Packaging Society Flash Conference /8./. 26.10.2022-27.10.2022, Brno]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: defects in resist * rtificial intelligence * image processing * automatization
Obor OECD: Automation and control systems
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0338861 - 7.0567284 - ÚPT 2023 RIV CZ eng J - Článek v odborném periodiku
Podstránský, Jáchym - Knápek, Alexandr
Automated defectoscopy of thin poly (methyl methacrylate) layers.
Electroscope. Roč. 2022, č. 1 (2022), č. článku 8. ISSN 1802-4564
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: defects in resist * artificial intelligence * image processing * automatization
Obor OECD: Automation and control systems
Způsob publikování: Open access
http://147.228.94.30/images/PDF/Rocnik2020/Cislo1_2022/r16c1c7.pdf
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0338550 - 8.0567239 - ÚPT 2023 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Helán, R. - Urban, F. - Somer, J. - Krátký, Stanislav - Kolařík, Vladimír - Mikel, Břetislav
Vláknový spektrální filtr s nelineárně proměnnou periodou difrakční struktury.
[Fiber optical spectrum filter based on diffraction structure with variable period.]
Interní kód: APL-2022-34 ; 2022
Technické parametry: Nelineární difrakční struktura zapsaná ve standardním jednovidovém optickém vlákně. Perioda mřížky kolem 530 nm, měnící se v průběhu struktury. Délka struktury 6-18 mm. Spektrální odezva s lineárně se měnící odrazivostí v závislosti na vlnové délce.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Radek Helán, helan@proficomms.cz.
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) FW01010379
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: Fiber Bragg grating * FBG nonlinear diffractive structure
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0338517 - 9.0566648 - ÚPT 2023 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Krátký, Stanislav - Kolařík, Vladimír - Mikel, Břetislav - Fořt, Tomáš - Helán, R. - Urban, F.
Nelineární fázová maska pro výrobu vláknových filtrů s definovanou strmostí spektrální charakteristiky.
[Apodized phase mask for the manufacture of fiber Bragg grating filter with defined transmission spectrum.]
Interní kód: APL-2022-30 ; 2022
Technické parametry: Fázová difrakční maska s rozlišením periody 0,1 nm připravená v materiálu fused silica naladěná pro expozici světlem s vlnovou délkou 248 nm a přípravu nelineárního vláknového filtru.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Stanislav Krátký, Ph.D., kratky@isibrno.cz.
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) FW01010379
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: apodized phase mask * diffraction grating * electron-beam lithography
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0337962 - 10.0566540 - ÚPT 2023 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Mika, Filip - Krátký, Stanislav - Pokorná, Zuzana
Kalibrační standard pro metodu spektroskopii sekundárních elektronů v SEM.
[Calibration standard sample for secondary electron spectroscopy in SEM.]
Interní kód: APL-2022-11 ; 2022
Technické parametry: Kalibrační vzorek obsahující mikrometrové struktury s různých materiálů vykazující odlišnou emisivitu sekundárních elektronů. Tloušťka jednotlivých materiálů je 150um a šířka proužků ze stříbra a chromu je 2 respektive 1 um.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Filip Mika, Ph.D.
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: test sample * scanning electron microscope * secondary electron spectrometer
Obor OECD: Materials engineering
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0337867