Výsledky vyhledávání
Váš dotaz:
Autor = "^kolařík vladimír upt d^" NEBO Autor = "^knápek alexandr upt d^" NEBO Autor = "^horáček miroslav upt d^" NEBO Autor = "^matějka milan upt d^" NEBO Autor = "^krátký stanislav upt d^" NEBO Autor = "^brunn ondřej upt d^" NEBO Autor = "^burda daniel upt d^" NEBO Autor = "^sadílek jakub upt d^" A Rok sběru = "2022"
- 1.0554502 - ÚPT 2022 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Allaham, Mohammad M. - Mousa, M. S. - Burda, Daniel - AlSa'eed, M. - AlJrawen, S. - Knápek, Alexandr … celkem 8 autorů
Analyses of field electron emission Molybdenum current-voltage data using Fowler-Nordheim and Murphy-Good plots.
International Vacuum Nanoelectronics Conference. In: 2021 34th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC). New York: IEEE, 2021 - (Purcell, S.; Mazellier, J.), (2021), s. 151-152. ISBN 978-1-6654-2589-6. ISSN 2380-6311.
[International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC) /34./. online (FR), 05.07.2021-09.07.2021]
Grant CEP: GA MV(CZ) VI20192022147
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: Field electron emission * Murphy-Good plots * Molybdenum Single tip field emitter * Orthodoxy test limits * kinked field emission characteristics
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
https://ieeexplore.ieee.org/document/9600771
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0329217 - 2.0554500 - ÚPT 2022 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Burda, Daniel - Allaham, Mohammad M. - Knápek, Alexandr - Sobola, Dinara - Mousa, M. S. … celkem 7 autorů
Field emission properties of sharp tungsten cathodes coated with a thin resilient oxide barrier.
International Vacuum Nanoelectronics Conference. In: 2021 34th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC). New York: IEEE, 2021 - (Purcell, S.; Mazellier, J.), (2021), s. 178-179. ISBN 978-1-6654-2589-6. ISSN 2380-6311.
[International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC) /34./. online (FR), 05.07.2021-09.07.2021]
Grant CEP: GA MV(CZ) VI20192022147
Výzkumná infrastruktura: CzechNanoLab - 90110
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: field electron microscopy * electrochemical etching * tungsten single tip field emitter * atomic layer deposition * Al2O3 nanolayer * Murphy-Good plot
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
https://ieeexplore.ieee.org/document/9600704
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0329215 - 3.0554495 - ÚPT 2022 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Hausladen, M. - Bomke, V. - Buchner, P. - Bachmann, M. - Knápek, Alexandr - Schreiner, R.
Influence of Geometrical Arrangements of Si Tip Arrays Fabricated by Laser Micromachining on their Emission Behaviour.
2021 34th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC). New York: IEEE, 2021 - (Purcell, S.; Mazellier, J.), (2021), s. 169-170. ISBN 978-1-6654-2589-6. ISSN 2380-6311.
[International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC) /34./. online (FR), 05.07.2021-09.07.2021]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: silicon field emission * field emitter array * parastichy tip arrangements * aperture field emission grid * laser micromachining
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
https://ieeexplore.ieee.org/document/9600717
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0329211 - 4.0553018 - ÚPT 2022 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Allaham, Mohammad M. - Knápek, Alexandr - Mousa, M. S. - Forbes, R. G.
User-friendly method for testing field electron emission data: Technical report.
International Vacuum Nanoelectronics Conference. In: 2021 34th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC). New York: IEEE, 2021 - (Purcell, S.; Mazellier, J.), (2021), s. 138-139. ISBN 978-1-6654-2589-6. ISSN 2380-6311.
[International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC) /34./. online (FR), 05.07.2021-09.07.2021]
Grant CEP: GA MV(CZ) VI20192022147
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: field emission analysis tool * Murphy-Good plot * voltage conversion length * field enhancement factor * formal emission area * formal area efficiency
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
https://ieeexplore.ieee.org/document/9600769
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0328068 - 5.0553007 - ÚPT 2022 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Popov, E. O. - Filippov, S. V. - Kolosko, A. G. - Knápek, Alexandr
Comparison of the effective parameters of single-tip tungsten emitter using FN and MG-plots.
International Vacuum Nanoelectronics Conference. In: 2021 34th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC). New York: IEEE, 2021 - (Purcell, S.; Mazellier, J.), (2021), s. 163-164. ISBN 978-1-6654-2589-6. ISSN 2380-6311.
[International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC) /34./. online (FR), 05.07.2021-09.07.2021]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: single-tip tungsten emitter * statistical data on effective parameters * FN plot * MG plot * real-time * k-power
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
https://ieeexplore.ieee.org/document/9600760
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0328062 - 6.0552218 - ÚPT 2022 RIV CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Helán, R. - Šifta, R. - Urban, F. - Urban jr., F. - Mikel, Břetislav - Krátký, Stanislav - Kolařík, Vladimír
Vláknové mřížky pro senzorické účely a návrh nelineárních struktur.
[Fiber gratings for sensing and design of nonlinear structures.]
LA61. Sborník příspěvků multioborové konference LASER61. Brno: Ústav přístrojové techniky AV ČR, 2021 - (Růžička, B.), s. 80-81. ISBN 978-80-87441-28-2.
[LASER61. Lednice (CZ), 20.10.2021-22.10.2021]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) FW01010379
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: FBG * phase mask * UV laser * nonlinear chirp
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0327357 - 7.0552204 - ÚPT 2022 RIV CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Mrňa, Libor - Novotný, Jan - Kolařík, Vladimír
Studie využití pikosekundového mikroobrábění pro výrobu reflexních DOE elementů pro výkonové CW lasery. Další aktivity.
[Aplication of picosecond laser micromachinning for manufacturing of reflective DOE for CW power lasers.]
LA61. Sborník příspěvků multioborové konference LASER61. Brno: Ústav přístrojové techniky AV ČR, 2021 - (Růžička, B.), s. 59-60. ISBN 978-80-87441-28-2.
[LASER61. Lednice (CZ), 20.10.2021-22.10.2021]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: laser * DOE * ultrafast laser * micromachining
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0327344 - 8.0552198 - ÚPT 2022 RIV CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Krátký, Stanislav - Kolařík, Vladimír - Mikel, Břetislav - Helán, R. - Urban, F.
Studium vlivu geometrických parametrů fázových binárních mřížek na jejich optickou odezvu pro potřeby přípravy optických vláknových senzorů.
[Study of the influence of geometrical parameters of phase binary gratings on their optical response for the preparation of optical fiber sensors.]
LA61. Sborník příspěvků multioborové konference LASER61. Brno: Ústav přístrojové techniky AV ČR, 2021 - (Růžička, B.), s. 43-44. ISBN 978-80-87441-28-2.
[LASER61. Lednice (CZ), 20.10.2021-22.10.2021]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) FW01010379
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: binary phase gratings * fiber optic sensors * diffraction
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0327333 - 9.0551708 - ÚPT 2022 RIV CZ cze O - Ostatní výsledky
Brunn, Ondřej - Burda, Daniel - Kolařík, Vladimír - Kopal, Jaroslav
Skleněná maska se sub mikronovými otvory.
[Glass mask with sub micron pinholes.]
2021
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: pinhole * mask * electron lithography
Obor OECD: Nano-processes (applications on nano-scale)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0326939 - 10.0549960 - ÚPT 2022 RIV CZ cze V - Výzkumná zpráva
Matějka, Milan - Horáček, Miroslav - Chlumská, Jana - Kolařík, Vladimír - Krátký, Stanislav
SMV-2021-31: TELIGHT zaměřovací obrazec.
[SMV-2021-31: TELIGHT aiming pattern.]
Brno: TELIGHT Brno, s.r.o., 2021. 8 s.
Zdroj financování: N - neveřejné zdroje
Klíčová slova: e-beam lithography * optics * reactive ion etching
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0325852