Výsledky vyhledávání
- 1.0375382 - ÚPT 2012 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Lazar, Josef - Číp, Ondřej - Oulehla, Jindřich - Pokorný, Pavel - Fejfar, Antonín - Stuchlík, Jiří
Displacement Interferometry in Passive Fabry-Perot Cavity.
NANOCON 2011. 3rd International Conference. Ostrava: Tanger spol. s r. o, 2011, s. 688-694. ISBN 978-80-87294-27-7.
[NANOCON 2011. International Conference /3./. Brno (CZ), 21.09.2011-23.09.2011]
Grant CEP: GA ČR GA102/09/1276; GA ČR GPP102/11/P820; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT(CZ) LC06007
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511; CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: refractometry * nanopositioning * interferometry * nanometrology
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0208053 - 2.0375381 - ÚPT 2012 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Matějka, Milan - Urbánek, Michal - Kolařík, Vladimír
Scanning Probe Microscopy: Measuring on Hard Surfaces.
NANOCON 2011. 3rd International Conference. Ostrava: Tanger spol. s r. o, 2011, s. 701-704. ISBN 978-80-87294-27-7.
[NANOCON 2011. International Conference /3./. Brno (CZ), 21.09.2011-23.09.2011]
Grant CEP: GA MPO FR-TI1/576; GA MŠMT ED0017/01/01
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: scanning probe microscopy * atomic force microscopy * hard surface samples measuring * image artifacts * polymer coatings
Kód oboru RIV: JP - Průmyslové procesy a zpracování
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0208052 - 3.0375380 - ÚPT 2012 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Urbánek, Michal - Kolařík, Vladimír - Matějka, Milan
SPM Nanoscratching in the Sub 100 nm Resolution.
NANOCON 2011. 3rd International Conference. Ostrava: Tanger spol. s r. o, 2011, s. 213-217. ISBN 978-80-87294-27-7.
[NANOCON 2011. International Conference /3./. Brno (CZ), 21.09.2011-23.09.2011]
Grant CEP: GA MPO FR-TI1/576; GA MŠMT ED0017/01/01
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: SPM microscopy * nanoscratching
Kód oboru RIV: JP - Průmyslové procesy a zpracování
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0208051 - 4.0368828 - ÚPT 2012 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Jákl, Petr - Šerý, Mojmír - Zemánek, Pavel
Multiple Probe Photonic Force Microscopy.
NANOCON 2011. 3rd International Conference. Ostrava: Tanger spol. s r. o, 2011, s. 682-687. ISBN 978-80-87294-27-7.
[NANOCON 2011. International Conference /3./. Brno (CZ), 21.09.2011-23.09.2011]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06007; GA MŠMT ED0017/01/01
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: photonic force microscopy * scanning probe microscopy * two-photon fluorescence * time-sharing traps
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0203061 - 5.0368827 - ÚPT 2012 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš - Mikmeková, Šárka - Pokorná, Zuzana - Mikmeková, Eliška - Frank, Luděk
Scanning Very Low Energy Electron Microscopy.
NANOCON 2011. 3rd International Conference. Ostrava: Tanger spol. s r. o, 2011, s. 238-243. ISBN 978-80-87294-27-7.
[NANOCON 2011. International Conference /3./. Brno (CZ), 21.09.2011-23.09.2011]
Grant CEP: GA ČR GAP108/11/2270; GA AV ČR IAA100650902
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: scanning electron microscopy * low energy electrons * grain contrast * transmitted electrons * dopant contrast * thin films
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0203060