Výsledky vyhledávání
- 1.0586897 - ÚPT 2025 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Novotný, Jan - Mrňa, Libor
Difrakční optický element vytvořený pikosekundovým obráběním na vlnové délce 257 nm pro tvarování optického svazku.
[A diffractive optical element created by picosecond laser micromachining at a wavelength of 257 nm for shaping a optical beam.]
Interní kód: APL-2024-03 ; 2024
Technické parametry: Fázová a difrakční maska sloužící ke korekci optických vad konkrétního objektivu. Vzniká hloubkovým strukturovaným gravírováním taveného křemene dle optického návrhu. Slouží pro kompenzaci optických vad daného objektivu a obecně pro tvarování rovnoběžného optického svazku. Pro obrábění použitá vlnová délka 257 nm umožňuje díky malé velikosti ohniskového spotu a vhodným charakteristikám absorpce záření (který fyzikálně souvisí s použitou vlnovou délkou) vytvářet požadované mikrostruktury s potřebnou přesností a velikostí. Vnější rozměry masky jsou 8x8 mm2, maximální hloubka elementu designovaného pro vln. délku 532 nm činí 266 nm, která je rozdělena do 64 úrovní. Vstupní data pro obrábění jsou tvořena bitmapou - pro tuto velikost činí rozlišení 512x512 px (cca 16 um/px). Níže snímek části struktury z konfokálního laserového skenovacího mikroskopu.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: doc. RNDr. Libor Mrňa, Ph.D., mrna@isibrno.cz.
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN02000020
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: diffractive optical element * phase mask * picosecond micromachining
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0354271 - 2.0584699 - ÚPT 2024 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Kolařík, Vladimír - Meluzín, Petr - Krátký, Stanislav - Chlumská, Jana - Kopal, Jaroslav - Burda, Daniel
Litografická maska s nanometrickým rozlišením.
[Lithographic mask with nanometer accuracy.]
Interní kód: APL-2024-02 ; 2024
Technické parametry: Kalibrační a metrologická pomůcka pro dosažení přesných výsledků při měření v optickém světelném spektru. Funkční vzorek je navržen jako mikroskopické sklíčko o rozměru cca. 76 mm x 26 mm, na kterém je umístěn motiv (resp. motivy) o celkovém rozměru cca. 46.7 mm x 18.5 mm.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek vyvinutý během řešení projektu s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Petr Meluzín, meluzin@isibrno.cz.
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN02000020
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: calibration * optical * devices * resolution
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0352542 - 3.0580433 - ÚPT 2024 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Brauner, Tomáš - Hanzelka, Pavel - Krutil, Vojtěch - Urban, Pavel - Láznička, Tomáš - Hrubanová, Kamila - Vlček, Ivan
Dewarova nádoba na kapalný dusík pro skenovací elektronový mikroskop.
[Liquid nitrogen Dewar vessel for scanning electron microscope.]
Interní kód: APL-2023-11 ; 2023
Technické parametry: Dewarova nádoba obsahuje chlazený měděný palec celkové délky 410 mm tepelně ukotvený ke dnu nádoby na kapalný dusík (LN2). Konec palce umožňuje tepelné spojení držáku vzorku a antikontaminačních štítů s palcem pomocí pevných nebo pružných měděných spojek. Vakuový prostor Dewarovy nádoby lze vlnovcem oddělit od vakuového prostoru komory mikroskopu a znemožnit tak kontaminaci komory odpařenými kondenzáty při zahřátí nádoby. Vnější válcový vakuový plášť má průměr 102 mm a výšku 208 mm. Objem vnitřní nádoby LN2 je 0,91 l. Při odhadované maximální tepelné zátěži 2 W na konci chlazeného palce je dosažitelná teplota jeho konce 90,8 K. Odpovídající doba výdrže náplně LN2 při tepelné zátěži 2 W je přibližně 11 h.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Pavel Urban, Ph.D, urban@isibrno.cz.
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN02000020
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: Dewar vessel * liquid nitrogen * sample cooling
Obor OECD: Thermodynamics
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0349209 - 4.0580361 - ÚPT 2024 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Materna Mikmeková, Eliška - Fořt, Tomáš - Souček, P.
Prototyp optického prvku č. 1 s povrchovou úpravou.
[Prototype of optical element #1 with surface treatment.]
Interní kód: APL-2023-08 ; 2023
Technické parametry: POLYETERETERKETON (PEEK) byl použit na výrobu optické části tubusu elektronového mikroskopu. Optický prvek byl vylepšen nanesením tenké kovové vrstvy (Al, Cr, W) pomocí magnetronového naprašování.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu slouží k výzkumným účelům. Funkční vzorek byl realizován pro konkrétní zařízení, a proto nedochází k přímému prodeji vzorku. Finanční vyčíslení případné prodejní ceny vychází z nákladů na vývoj, materiál, výrobu a přiměřený zisk. Kontakt: Mgr. Eliška Materna Mikmeková, Ph.D., MBA, eliska@isibrno.cz.
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN02000020
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: optical elements * PEEK * SEM * magnetron sputtering
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0349151 - 5.0580360 - ÚPT 2024 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Materna Mikmeková, Eliška - Sýkora, Jiří - Piňos, Jakub - Konvalina, Ivo
Držáky pro manipulaci s optickými prvky.
[Holders for the optical elements manipulation.]
Interní kód: APL-2023-09 ; 2023
Technické parametry: Držák vzorku se skládá z podložky, na kterou se vzorek umísťuje, dále měděné čepičky na přichycení vzorku a keramického pouzdra.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu slouží k výzkumným účelům příjemce, Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. Funkční vzorek byl realizován pro konkrétní zařízení, a proto nedochází k přímému prodeji vzorku. Finanční vyčíslení případné prodejní ceny vychází z nákladů na vývoj, materiál, výrobu a přiměřený zisk. Kontakt: Mgr. Eliška Materna Mikmeková, PhD., MBA, eliska@isibrno.cz.
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN02000020
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: sample holder * manipulation * SEM
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0349150