Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0571425 - FZÚ 2024 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Kim, H. - Kashir, Alireza - Jang, H. - Oh, S. - Yadav, M. - Lee, S. - Hwang, H.
    Two-step deposition of TiN capping electrodes to prevent degradation of ferroelectric properties in an in-situ crystallized TiN/Hf0.5Zr0.5O2/TiN device.
    Nano Express. Roč. 3, č. 1 (2022), č. článku 015004. E-ISSN 2632-959X
    Institucionální podpora: RVO:68378271
    Klíčová slova: capping layer effect * in situ crystallization * polarization value * deposition temperature * wake-up effect
    Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
    Impakt faktor: 3, rok: 2022
    Způsob publikování: Open access
    Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0342651
    Název souboruStaženoVelikostKomentářVerzePřístup
    0571425.pdf03.4 MBCC licenceVydavatelský postprintpovolen
     
     
  2. 2.
    0553457 - FZÚ 2023 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Yadav, M. - Kashir, Alireza - Oh, S. - Nikam, R.D. - Kim, H. - Jang, H. - Hwang, H.
    High polarization and wake-up free ferroelectric characteristics in ultrathin Hf0.5Zr0.5O2 devices by control of oxygen-deficient layer.
    Nanotechnology. Roč. 33, č. 8 (2022), č. článku 085206. ISSN 0957-4484. E-ISSN 1361-6528
    Institucionální podpora: RVO:68378271
    Klíčová slova: interfacial layer * annealing temperature * remnant polarization * sub-5 nm HZO * wakeup free * TEM * XPS
    Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
    Impakt faktor: 3.5, rok: 2022
    Způsob publikování: Open access s časovým embargem
    https://doi.org/10.1088/1361-6528/ac3a38
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0330727
    Název souboruStaženoVelikostKomentářVerzePřístup
    0553457AP.pdf11.1 MBAutorský postprintpovolen
     
     
  3. 3.
    0551091 - FZÚ 2022 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Kashir, Alireza - Farahani, M.G. - Kamba, Stanislav - Yadav, M. - Hwang, H.
    Hf1−xZrxO2/ZrO2 nanolaminate thin films as a high‑κ dielectric.
    ACS Applied Electronic Materials. Roč. 3, č. 12 (2021), s. 5632-5640. E-ISSN 2637-6113
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) EF16_019/0000760; GA ČR(CZ) GA21-06802S
    Grant ostatní: OP VVV - SOLID21(XE) CZ.02.1.01/0.0/0.0/16_019/0000760
    Institucionální podpora: RVO:68378271
    Klíčová slova: ferroelectric * antiferroelectric * thin films * permittivity
    Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
    Impakt faktor: 4.494, rok: 2021
    Způsob publikování: Omezený přístup
    https://doi.org/10.1021/acsaelm.1c01105
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0327442
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.