Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0538151 - ÚFP 2021 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Novotný, L. - Čeřovský, Jaroslav - Dhyani, P. - Ficker, O. - Havránek, M. - Hejtmánek, M. - Janoška, Z. - Kafka, V. - Kulkov, S. - Marčišovská, M. - Marcisovský, M. - Neue, G. - Svihra, P. - Svoboda, V. - Tomášek, L. - Tunkl, M. - Vrba, V.
    Runaway electron diagnostics using silicon strip detector.
    Journal of Instrumentation. Roč. 15, č. 7 (2020), č. článku C07015. ISSN 1748-0221. E-ISSN 1748-0221
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GA18-02482S
    Institucionální podpora: RVO:61389021
    Klíčová slova: Runaway electrons * silicon strip detector
    Obor OECD: Fluids and plasma physics (including surface physics)
    Impakt faktor: 1.415, rok: 2020
    Způsob publikování: Omezený přístup
    https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1748-0221/15/07/C07015/pdf
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0315973
     
     
  2. 2.
    0538009 - FZÚ 2021 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Marčišovská, M. - Dudas, D. - Havránek, M. - Kabátová, A. - Kafka, V. - Kostina, A. - Macková, A. - Marcisovský, M. - Mitrofanov, S. V. - Popule, Jiří - Romanenko, Oleksandr V. - Tomášek, L. - Vrba, V.
    TID and SEU testing of the novel X-CHIP-03 monolithic pixel detector.
    Journal of Instrumentation. Roč. 15, č. 1 (2020), s. 1-11, č. článku C01043. ISSN 1748-0221. E-ISSN 1748-0221
    Grant CEP: GA MŠMT EF16_013/0001812
    Institucionální podpora: RVO:68378271 ; RVO:61389005
    Klíčová slova: radiation damage to detector materials (solid state) * radiation damage to electronic components * radiation-hard detectors * radiation-hard electronics
    Obor OECD: Particles and field physics; Nuclear physics (UJF-V)
    Impakt faktor: 1.415, rok: 2020
    Způsob publikování: Omezený přístup
    https://doi.org/10.1088/1748-0221/15/01/C01043
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0315849
     
     
  3. 3.
    0509566 - ÚFP 2020 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Svihra, P. - Břeň, D. - Casolari, Andrea - Čeřovský, Jaroslav - Dhyani, P. - Farník, Michal - Ficker, Ondřej - Havránek, M. - Hejtmanek, M. - Janoška, Z. - Kafka, V. - Kulhánek, Petr - Linhart, V. - Tomešová, Eva - Marčišovská, M. - Marcisovský, M. - Mlynář, Jan - Neue, G. - Novotný, L. - Svoboda, V. - Tomášek, L. - Urban, Jakub - Vančura, P. - Varju, Jozef - Vrba, V. - Weinzettl, Vladimír
    Runaway electrons diagnostics using segmented semiconductor detectors.
    Fusion Engineering and Design. Roč. 146, September (2019), s. 316-319. ISSN 0920-3796. E-ISSN 1873-7196
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GA18-02482S; GA MŠMT(CZ) LM2015045
    Institucionální podpora: RVO:61389021
    Klíčová slova: Runaway electrons * Semiconductor detectors * Tokamaks
    Obor OECD: Fluids and plasma physics (including surface physics)
    Impakt faktor: 1.692, rok: 2019
    Způsob publikování: Omezený přístup
    https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S0920379618308196?via%3Dihub
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0300275
     
     
  4. 4.
    0501816 - FZÚ 2019 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Havránek, M. - Benka, T. - Hejtmanek, M. - Janoška, Z. - Kafka, Z. - Kopeček, Jaromír - Kuklová, M. - Marčišovská, M. - Marcisovský, M. - Neue, G. - Svihra, P. - Tomášek, L. - Vančura, P. - Vrba, V.
    MAPS sensor for radiation imaging designed in 180 nm SOI CMOS technology.
    Journal of Instrumentation. Roč. 13, č. 6 (2018), s. 1-10, č. článku C06004. ISSN 1748-0221. E-ISSN 1748-0221
    Grant CEP: GA MŠMT LM2015058
    Institucionální podpora: RVO:68378271
    Klíčová slova: active pixel sensor * X-ray detectors
    Obor OECD: Nuclear physics
    Impakt faktor: 1.366, rok: 2018
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0293800
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.