Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0583158 - ÚFP 2024 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Kaván, František - Psota, Pavel - Lédl, Vít - Matoušek, O.
    Multiple wavelength digital holography for freeform shape measurement and lens alignment.
    Applied Optics. Roč. 62, č. 10 (2023), D138-D145. ISSN 1559-128X. E-ISSN 2155-3165
    Institucionální podpora: RVO:61389021
    Klíčová slova: wavelenght * lens alignment * freeform shape measurement
    Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
    Impakt faktor: 1.9, rok: 2022
    Způsob publikování: Omezený přístup
    https://opg.optica.org/ao/abstract.cfm?uri=ao-62-10-D138
    Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0351150
     
     
  2. 2.
    0572073 - ÚFP 2024 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Mach, Marek - Stašík, Marek - Kaván, František - Mokrý, Pavel - Lédl, Vít - Psota, Pavel
    Subaperture stitching digital holographic microscopy for precise wear volume measurement in tribology.
    Applied Optics. Roč. 62, č. 8 (2023), s. 2137-2144. ISSN 1559-128X. E-ISSN 2155-3165
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) EF16_026/0008390; GA ČR(CZ) GA19-22000S
    Institucionální podpora: RVO:61389021
    Klíčová slova: wear * subaperture stitching * tribology
    Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
    Impakt faktor: 1.9, rok: 2022
    Způsob publikování: Omezený přístup
    https://opg.optica.org/ao/abstract.cfm?uri=ao-62-8-2137
    Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0342909
     
     
  3. 3.
    0570342 - ÚFP 2023 RIV ES eng J - Článek v odborném periodiku
    Stašík, M. - Kaván, František - Mach, M. - Sedláčková, K. - Kredba, J. - Špína, Michal
    Advanced Measurement Procedure for Interferometric Microscope for Three-dimensional Imaging of Complex Surfaces Using Two-wavelength Interferometry and Reference Arm Attenuation.
    Sensors & Transducers Journal. Roč. 247, č. 8 (2020), s. 8-17. ISSN 2306-8515. E-ISSN 1726-5479
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GA19-22000S
    Institucionální podpora: RVO:61389021
    Klíčová slova: microscope * interferometry * phase shifting * Bragg cell
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Způsob publikování: Open access
    https://www.sensorsportal.com/HTML/DIGEST/december_2020/Vol_247/P_3191.pdf
    Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0341635
     
     
  4. 4.
    0494419 - ÚFP 2019 RIV CZ cze J - Článek v odborném periodiku
    Kaván, František - Psota, P.
    Měření vektoru citlivosti a jeho použití v digitální holografii.
    [Measurement of the sensitivity vector and its usage in digital holography.]
    Jemná mechanika a optika. Roč. 63, č. 7 (2018), s. 198-201. ISSN 0447-6441
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LO1206
    Institucionální podpora: RVO:61389021
    Klíčová slova: digital holography * holography * sensitivity vector
    Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0287993
     
     
  5. 5.
    0490515 - ÚFP 2019 RIV CZ cze J - Článek v odborném periodiku
    Kaván, František - Psota, Pavel
    Optimalizace digitální holografické metody pro měření tvarů optických ploch.
    [Optimization of Digital Holographic method for optical surface measurement.]
    Jemná mechanika a optika. Roč. 63, č. 2 (2018), s. 59-61. ISSN 0447-6441
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LO1206
    Institucionální podpora: RVO:61389021
    Klíčová slova: digital holography * holographic interferometry * optical shapes measurement
    Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0287747
     
     
  6. 6.
    0484767 - ÚFP 2018 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Lédl, Vít - Psota, Pavel - Kaván, František - Matoušek, Ondřej - Mokrý, Pavel
    Surface topography measurement by frequency sweeping digital holography.
    Applied Optics. Roč. 56, č. 28 (2017), s. 7808-7814. ISSN 1559-128X. E-ISSN 2155-3165
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LO1206; GA ČR(CZ) GA16-11965S
    Institucionální podpora: RVO:61389021
    Klíčová slova: Wavelenght Scanning Interferometry * Shape measurement * Profilomerty
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Impakt faktor: 1.791, rok: 2017
    https://doi.org/10.1364/AO.56.007808
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0279917
    Název souboruStaženoVelikostKomentářVerzePřístup
    Surface topography measurement by frequency sweeping digital holography..pdf31.5 MBVydavatelský postprintvyžádat
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.