Výsledky vyhledávání
- 1.0532037 - ÚPT 2021 RIV JO eng J - Článek v odborném periodiku
Mousa, M. S. - Knápek, Alexandr - Grmela, L.
Similarities and Differences between Two Researches in Field Electron Emission: A Way to Develop a More Powerful Electron Source.
Jordan Journal of Physics. Roč. 13, č. 2 (2020), s. 171-179. ISSN 1994-7607. E-ISSN 1994-7615
Grant CEP: GA MPO FV10618
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: cold field emission * epoxylite 478 * epoxylite EPR-4
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Způsob publikování: Open access
http://journals.yu.edu.jo/jjp/JJPIssues/Vol13No2pdf2020/9.html
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0310643 - 2.0532029 - ÚPT 2021 RIV JO eng J - Článek v odborném periodiku
Knápek, Alexandr - Drozd, Michal - Matějka, Milan - Chlumská, Jana - Král, Stanislav - Kolařík, Vladimír
Automated System for Optical Inspection of Defects in Resist-coated Non-patterned Wafer.
Jordan Journal of Physics. Roč. 13, č. 2 (2020), s. 93-100. ISSN 1994-7607. E-ISSN 1994-7615
Grant CEP: GA MPO FV10618
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: optical inspection * resist layer * non-patterned wafer * quality control
Obor OECD: Automation and control systems
Způsob publikování: Open access
http://journals.yu.edu.jo/jjp/JJPIssues/Vol13No2pdf2020/1.html
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0310631 - 3.0524873 - ÚPT 2021 RIV SK eng J - Článek v odborném periodiku
Allaham, M. M. - Forbes, R. G. - Knápek, Alexandr - Mousa, M. S.
Implementation of the orthodoxy test as a validity check on experimental field emission data.
Journal of Electrical Engineering - Elektrotechnický časopis. Roč. 71, č. 1 (2020), s. 37-42. ISSN 1335-3632. E-ISSN 1339-309X
Grant CEP: GA MPO FV10618
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: field electron emission * field emission orthodoxy test * Fowler-Nordheim plots * Millikan-Lauritsen plots * Murphy-Good plots * field enhancement factor * emitter characterization parameters
Obor OECD: Particles and field physics
Impakt faktor: 0.647, rok: 2020
Způsob publikování: Open access
https://content.sciendo.com/view/journals/jee/71/1/article-p37.xml?language=en
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0309119 - 4.0524870 - ÚPT 2021 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Sobola, D. - Ramazanov, S. - Konečný, M. - Orudzhev, F. - Kaspar, P. - Papež, N. - Knápek, Alexandr - Potoček, M.
Complementary SEM-AFM of Swelling Bi-Fe-O Film on HOPG Substrate.
Materials. Roč. 10, č. 13 (2020), č. článku 2402. E-ISSN 1996-1944
Grant CEP: GA MPO FV10618
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: surface delamination * graphite substrate * atomic layer deposition * combined imaging * surface tension
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Impakt faktor: 3.623, rok: 2020
Způsob publikování: Open access
https://www.mdpi.com/1996-1944/13/10/2402
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0309116 - 5.0517570 - ÚPT 2020 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Knápek, Alexandr - Sobola, D. - Burda, Daniel - Daňhel, Aleš - Mousa, M. - Kolařík, Vladimír
Polymer Graphite Pencil Lead as a Cheap Alternative for Classic Conductive SPM Probes.
Nanomaterials. Roč. 9, č. 12 (2019), č. článku 1756. E-ISSN 2079-4991
Grant CEP: GA MPO FV10618
Institucionální podpora: RVO:68081731 ; RVO:68081707
Klíčová slova: scanning tunneling microscopy * sharp tip formation * graphite
Obor OECD: Nano-materials (production and properties); Nano-materials (production and properties) (BFU-R)
Impakt faktor: 4.324, rok: 2019
Způsob publikování: Open access
https://www.mdpi.com/2079-4991/9/12/1756/htm
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0302907 - 6.0501458 - ÚPT 2020 RIV SK eng J - Článek v odborném periodiku
Kolařík, Vladimír - Horáček, Miroslav - Knápek, Alexandr - Krátký, Stanislav - Matějka, Milan - Meluzín, Petr
Spiral arrangement: From nanostructures to packaging.
Journal of Electrical Engineering - Elektrotechnický časopis. Roč. 70, č. 1 (2019), s. 74-77. ISSN 1335-3632. E-ISSN 1339-309X
Grant CEP: GA MPO FV10618; GA TA ČR TG03010046; GA TA ČR TE01020233; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron beam lithography * phyllotaxis * spiral arrangement * parastichy
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Impakt faktor: 0.686, rok: 2019
Způsob publikování: Open access
https://content.sciendo.com/view/journals/jee/70/1/article-p74.xml?lang=en
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0293484