Výsledky vyhledávání
- 1.0482395 - ÚPT 2020 RIV CZ eng J - Článek v odborném periodiku
Fialová, D. - Drozdová, E. - Skoupý, Radim - Mikulík, P. - Klíma, B.
Scanning electron microscopy of dental calculus from the great moravian necropolis Znojmo-Hradiště.
Anthropologie. Roč. 55, č. 3 (2017), s. 343-351. ISSN 0323-1119. E-ISSN 2570-9127
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-20012S; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: dental calculus * SEM * bacteria * bio-archaeological samples * early Middle Ages * Znojmo-Hradiště
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Způsob publikování: Pouze metadata
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0277795 - 2.0482374 - ÚPT 2018 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Fialová, D. - Skoupý, Radim - Drozdová, E. - Paták, Aleš - Piňos, Jakub - Šín, L. - Beňuš, R. - Klíma, B.
The Application of Scanning Electron Microscopy with Energy-Dispersive X-Ray Spectroscopy (SEM-EDX) in Ancient Dental Calculus for the Reconstruction of Human Habits.
Microscopy and Microanalysis. Roč. 23, č. 6 (2017), s. 1207-1213. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: ancient dental calculus * SEM-EDX * human habits * the Great Moravian Empire * Napoleonic Wars
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Impakt faktor: 2.124, rok: 2017
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0279713 - 3.0465223 - ÚPT 2017 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Fialová, D. - Skoupý, Radim - Drozdová, E. - Krzyžánek, Vladislav - Šín, L. - Beňuš, R. - Klíma, B.
The Application of Scanning Electron Microscopy with Energy Dispersive X-ray Spectroscopy (SEM-EDX) in Ancient Dental Calculus for the Reconstruction of Human Habits.
Microscopy and Microanalysis. Roč. 22, S3 (2016), s. 2056-2057. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: SEM * EDX * bio-archaeological material
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 1.891, rok: 2016
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0263876