Výsledky vyhledávání
- 1.0494374 - ÚPT 2019 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Rodenburg, C. - Masters, R. - Abrams, K. - Dapor, M. - Krátký, Stanislav - Mika, Filip
Secondary electron hyper spectral imaging in helios nanolab - mapping materials properties or artefacts?
Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Proceedings of the 16th International Seminar. Brno: Institute of Scientific Instruments The Czech Academy of Sciences, 2018, s. 68-69. ISBN 978-80-87441-23-7.
[Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 04.06.2018-08.06.2018]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: secondary electrons * polymers * hyperspectral imaging
Obor OECD: Coating and films
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0288492 - 2.0460212 - ÚPT 2017 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Rodenburg, C. - Masters, R. - Lidzey, D. - Unčovský, M. - Vystavěl, Tomáš - Mika, Filip
Secondary electron spectroscopy and energy selective imaging for the engineering of carbon based materials.
Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 - (Mika, F.), s. 58-59. ISBN 978-80-87441-17-6.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./. Skalský dvůr (CZ), 29.05.2016-03.06.2016]
Institucionální podpora: RVO:68081731 ; RVO:68378271
Klíčová slova: emission spectroscopy * SES
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://www.trends.isibrno.cz/
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0260344