Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0575337 - ÚPT 2024 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Nohl, J. F. - Farr, N. T. H. - Sun, Y. - Hughes, G. M. - Stehling, N. - Zhang, J. - Longman, F. - Ives, G. - Pokorná, Zuzana - Mika, Filip - Kumar, V. - Mihaylova, L. - Holland, C. - Cussen, S. A. - Rodenburg, C.
    Insights into surface chemistry down to nanoscale: An accessible colour hyperspectral imaging approach for scanning electron microscopy.
    Materials Today Advances. Roč. 19, August (2023), č. článku 100413. ISSN 2590-0498. E-ISSN 2590-0498
    Grant ostatní: AV ČR(CZ) StrategieAV21/26
    Program: StrategieAV
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: chemical imaging * secondary electron hyperspectral imaging * scanning electron microscopy * secondary electrons * machine learning
    Obor OECD: Coating and films
    Impakt faktor: 10, rok: 2022
    Způsob publikování: Open access
    https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S2590049823000735
    Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0345124
     
     
  2. 2.
    0510248 - ÚPT 2020 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Abrams, K.J. - Dapor, M. - Stehling, N. - Azzolini, M. - Kyle, S.J. - Schäfer, J.S. - Quade, A. - Mika, Filip - Krátký, Stanislav - Pokorná, Zuzana - Konvalina, Ivo - Mehta, D. - Black, K. - Rodenburg, C.
    Making Sense of Complex Carbon and Metal/Carbon Systems by Secondary Electron Hyperspectral Imaging.
    Advanced Science. Roč. 6, č. 19 (2019), č. článku 1900719. E-ISSN 2198-3844
    Grant CEP: GA MŠMT ED0017/01/01
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: carbon orientations * carbon surface analysis * characterization * modeling * secondary electron emission * secondary electron hyperspectral imaging * secondary electron spectroscopy
    Obor OECD: Coating and films
    Impakt faktor: 15.840, rok: 2019
    Způsob publikování: Open access
    https://onlinelibrary.wiley.com/doi/full/10.1002/advs.201900719
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0300765
     
     
  3. 3.
    0498772 - ÚPT 2019 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Dapor, M. - Masters, R. - Ross, I. - Lidzey, D. - Pearson, A. - Abril, I. - Garcia-Molina, R. - Sharp, J. - Unčovský, M. - Vystavěl, T. - Mika, Filip - Rodenburg, C.
    Secondary electron spectra of semi-crystalline polymers A novel polymer characterisation tool?
    Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena. Roč. 222, JAN (2018), s. 95-105. ISSN 0368-2048. E-ISSN 1873-2526
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: energy * microscope * films * semiconductors * spectroscopy
    Obor OECD: Coating and films
    Impakt faktor: 1.343, rok: 2018
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0291039
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.