Výsledky vyhledávání
- 1.0452283 - ÚPT 2016 RIV HU eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Krzyžánek, Vladislav - Keller, U. - Sporenberg, N. - Schönhoff, M.
Structure of polyelectrolyte hollow capsules by scanning electron microscopy.
12th Multinational Congress on Microscopy. Budapest: Akadémiai Kiadó, 2015, s. 211-212. ISBN 978-963-05-9653-4.
[MCM 2015. Multinational Congress on Microscopy /12./. Eger (HU), 23.08.2015-28.08.2015]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-20012S
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: cryo-SEM * low voltage STEM * quantitative imaging * hollow capsules
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0253308 - 2.0452276 - ÚPT 2016 RIV HU eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Skoupý, Radim - Krzyžánek, Vladislav - Kočová, L. - Nebesářová, Jana
Electron beam induced mass loss dependence on aging of Epon resin sections.
12th Multinational Congress on Microscopy. Budapest: Akadémiai Kiadó, 2015, s. 112-113. ISBN 978-963-05-9653-4.
[MCM 2015. Multinational Congress on Microscopy /12./. Eger (HU), 23.08.2015-28.08.2015]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-20012S; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731 ; RVO:60077344
Klíčová slova: STEM * mass loss * resin * Epon
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0253305 - 3.0450825 - ÚPT 2016 RIV HU eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Frank, Luděk - Mikmeková, Eliška
Graphene examined with very slow electrons.
12th Multinational Congress on Microscopy. Budapest: Akadémiai Kiadó, 2015, s. 182-183. ISBN 978-963-05-9653-4.
[MCM 2015. Multinational Congress on Microscopy /12./. Eger (HU), 23.08.2015-28.08.2015]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: graphene * 2D crystals * ultra-low-energy STEM * ultra-low-energy SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0252038 - 4.0450822 - ÚPT 2016 RIV HU eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Pokorná, Zuzana - Frank, Luděk - Knápek, Alexandr - Konvalina, Ivo - Mikmeková, Eliška - Mikmeková, Šárka - Walker, Christopher - Müllerová, Ilona
Scanning low-and very low energy electron microscopy.
12th Multinational Congress on Microscopy. Budapest: Akadémiai Kiadó, 2015, s. 218-220. ISBN 978-963-05-9653-4.
[MCM 2015. Multinational Congress on Microscopy /12./. Eger (HU), 23.08.2015-28.08.2015]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: very low energy * scanning low energy electron microscopy * crystallography, graphene * tissue sections
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0252034