Výsledky vyhledávání
- 1.0432123 - FZÚ 2015 CZ eng A - Abstrakt
Drahokoupil, Jan - Veřtát, P. - Richterová, Kristina - Laufek, František
Measurement of lattice parameters of single crystals and thin layers.
Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology. Czech and Slovak Crystallographic Association. Roč. 21, č. 2 (2014), s. 97-97. ISSN 1211-5894.
[Struktura 2014 : kolokvium Krystalografické společnosti. 09.06.2014-12.06.2014, Kutná Hora]
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: XRD * lattice parameters
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
http://www.xray.cz/ms/bul2014-2/wednesday1.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0236601