Výsledky vyhledávání
- 1.0574279 - ÚPT 2024 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Průcha, Lukáš - Lejeune, M. - Kizovský, Martin - Materna Mikmeková, Eliška
In-situ thermal Raman spectroscopy of single-layer graphene on different substrates.
Materials Today Communications. Roč. 35, June (2023), č. článku 105921. ISSN 2352-4928. E-ISSN 2352-4928
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA22-34286S
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: Graphene * Raman spectroscopy * Thermal measurements * Graphene decomposition * Thermal decomposition
Obor OECD: Atomic, molecular and chemical physics (physics of atoms and molecules including collision, interaction with radiation, magnetic resonances, Mössbauer effect)
Impakt faktor: 3.8, rok: 2022
Způsob publikování: Omezený přístup
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S2352492823006128
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0344614 - 2.0532408 - ÚPT 2021 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Pérez-Pacheco, A. - García, E. - Calderón-Olvera, R. M. - Muhl, S. - Camps, E. - Lejeune, M. - Mikmeková, Eliška
Nanocomposite films of a-C:H/Bi made using a toroidal planar hollow cathode.
FlatChem. Roč. 20, MAR (2020), č. článku 100160. ISSN 2452-2627. E-ISSN 2452-2627
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: hollow cathode * nanoparticles * amorphous carbon * bismuth
Obor OECD: Coating and films
Impakt faktor: 5.227, rok: 2020
Způsob publikování: Omezený přístup
https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S245226272030009X
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0310909 - 3.0525529 - ÚPT 2021 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Materna Mikmeková, Eliška - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Paták, Aleš - Polčák, J. - Sluyterman, S. - Lejeune, M. - Konvalina, Ivo
Low-energy electron microscopy of graphene outside UHV: electron-induced removal of PMMA residues used for graphene transfer.
Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena. Roč. 241, MAY (2020), č. článku 146873. ISSN 0368-2048. E-ISSN 1873-2526
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
GRANT EU: European Commission(XE) 606988 - SIMDALEE2
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: graphene * PMMA * slow electron treatment * XPS * Raman spectroscopy
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Impakt faktor: 1.957, rok: 2020
Způsob publikování: Open access
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0368204818302068
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0309642 - 4.0474781 - ÚPT 2018 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Frank, Luděk - Mikmeková, Eliška - Lejeune, M.
Treatment of surfaces with low-energy electrons.
Applied Surface Science. Roč. 407, JUN 15 (2017), s. 105-108. ISSN 0169-4332. E-ISSN 1873-5584
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: Low-energy electrons * Electron beam induced release * Graphene * Ultimate cleaning of surfaces
Obor OECD: Nano-processes (applications on nano-scale)
Impakt faktor: 4.439, rok: 2017
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0271732 - 5.0469631 - ÚFE 2017 RIV CA eng J - Článek v odborném periodiku
Mhamdi, L. - Mhamdi, N. - Mhamdi, Nc. - Lejeune, M. - Jaffrezic, N. - Burais, N. - Scorretti, R. - Pokorný, Jiří - Ponsonnet, L.
Effect of a static magnetic field on Escherichia coli adhesion and orientation.
Canadian Journal of Microbiology. Roč. 62, č. 11 (2016), s. 944-952. ISSN 0008-4166. E-ISSN 1480-3275
Institucionální podpora: RVO:67985882
Klíčová slova: Fluorescence microscopy * Static magnetic field * Escherichia coli
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 1.462, rok: 2016
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0267455 - 6.0459573 - ÚPT 2017 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Mikmeková, Eliška - Frank, Luděk - Müllerová, Ilona - Li, B. W. - Ruoff, R. S. - Lejeune, M.
Study of multi-layered graphene by ultra-low energy SEM/STEM.
Diamond and Related Materials. Roč. 63, March 2016 (2016), s. 136-142. ISSN 0925-9635. E-ISSN 1879-0062
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1212
GRANT EU: European Commission(XE) 606988 - SIMDALEE2
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: scanning ultra low energy electron microscopy * graphene * contamination * CVD
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 2.561, rok: 2016
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0259759 - 7.0443322 - ÚPT 2016 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Frank, Luděk - Mikmeková, Eliška - Müllerová, Ilona - Lejeune, M.
Counting graphene layers with very slow electrons.
Applied Physics Letters. Roč. 106, 09 JAN (2015), 013117:1-5. ISSN 0003-6951. E-ISSN 1077-3118
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1212
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: graphene * ultralow energy STEM * counting graphene layers * cleaning of graphene * 2D crystals
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 3.142, rok: 2015
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0246044 - 8.0395127 - ÚPT 2014 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Mikmeková, Eliška - Bouyanfif, H. - Lejeune, M. - Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš - Unčovský, M. - Frank, Luděk
Very low energy electron microscopy of graphene flakes.
Journal of Microscopy. Roč. 251, č. 2 (2013), s. 123-127. ISSN 0022-2720. E-ISSN 1365-2818
Grant CEP: GA ČR GAP108/11/2270; GA TA ČR TE01020118; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: graphene * very low energy STEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 2.150, rok: 2013
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0225233