Výsledky vyhledávání
- 1.0465341 - ÚPT 2017 RIV GB eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Tacke, S. - Krzyžánek, Vladislav - Nüsse, H. - Rosenthal, A. - Klingauf, J. - Wepf, R.A. - Reichelt, R.
A versatile high-vacuum cryo transfer system for cryo microscopy and analytics.
EMC2016. The 16th European Microscopy Congres. Proceedings. Oxford: Wiley, 2016, s. 412-413. ISBN 9783527808465.
[EMC2016. European Microscopy Congress /16./. Lyon (FR), 28.08.2016-02.09.2016]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-20012S
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: cryo-EM * High-Vacuum cryo Transfer
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/9783527808465.EMC2016.6577/pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0263969 - 2.0465336 - ÚPT 2017 RIV GB eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Krzyžánek, Vladislav - Tacke, S.
MASDET2 – software for quantitative STEM imaging.
EMC2016. The 16th European Microscopy Congress. Proceedings. Oxford: Wiley, 2016, s. 583-584. ISBN 9783527808465.
[EMC2016. European Microscopy Congress /16./. Lyon (FR), 28.08.2016-02.09.2016]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-20012S
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: mass measurement * quantitative imaging * STEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/9783527808465.EMC2016.5831/pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0263952 - 3.0434113 - ÚPT 2015 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Tacke, S. - Krzyžánek, Vladislav - Reichelt, R. - Klingauf, J.
A cryo high-vacuum shuttle for correlative cryogenic investigations.
18th International Microscopy Congres. Proceedings. Praha: Czechoslovak Microscopy Society, 2014. ISBN 978-80-260-6720-7.
[International Microscopy Congres /18./. Praha (CZ), 07.09.2014-12.09.2014]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-20012S
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: cryo-preparation * cryo high-vacuum shuttle * correlative microscopy
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0238249 - 4.0420974 - ÚPT 2014 DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Tacke, S. - Krzyžánek, Vladislav - Reichelt, R. - Klingauf, J.
Correlation of structure and mass via scanning transmission electron microscopy.
Microscopy conference (MC) 2013. Proceedings. Vol. 2. Regensburg: University of Regensburg, 2013, s. 310-311.
[Microscopy Conference 2013. Regensburg (DE), 25.08.2013-30. 08.2013]
Grant CEP: GA MŠMT EE.2.3.20.0103
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: quantitative scanning transmission electron microscopy * mass measurement
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0227428 - 5.0420840 - ÚPT 2014 DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Tacke, S. - Krzyžánek, Vladislav - Reichelt, R. - Klingauf, J.
A cryo high-vacuum shuttle for (correlative) cryogenic electron microscopy.
Microscopy conference (MC) 2013. Proceedings. Vol. 2. Regensburg: University of Regensburg, 2013, s. 294-295.
[Microscopy Conference 2013. Regensburg (DE), 25.08.2013-30. 08.2013]
Grant CEP: GA MŠMT EE.2.3.20.0103
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: cryo high-vacuum shuttle * cryo-preparation * cryo-correlative light and electron microscopy
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0227416 - 6.0387270 - ÚPT 2013 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Tacke, S. - Krzyžánek, Vladislav - Klingauf, J.
A new cryo high-vacuum transfer system for STEM and TEM.
EMC 2012. Proceedings of the 15th European Microscopy Congress. Manchester: The Royal Microscopical Society, 2012, s. 445-446. ISBN 978-0-9502463-7-6.
[EMC 2012. European Microscopy Congress /15./. Manchester (US), 16.09.2012-21.09.2012]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: cryo high-vacuum shuttle * cryo-preparation * cryo-EM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0216443 - 7.0387268 - ÚPT 2013 RIV GB eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Krzyžánek, Vladislav - Tacke, S. - Sporenberg, N. - Schönhoff, M. - Reichelt, R.
Mass measurements using electron scattering employing an "in-lens" scanning electron microscope.
EMC 2012. Proceedings of the 15th European Microscopy Congress. vol. 2. Manchester: The Royal Microscopical Society, 2012, s. 111-112. ISBN 978-0-9502463-6-9.
[EMC 2012. European Microscopy Congress /15./. Manchester (US), 16.09.2012-21.09.2012]
Grant CEP: GA MŠMT EE.2.3.20.0103
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: STEM * ADF * cryo-EM
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0216409