Výsledky vyhledávání
- 1.0584778 - ÚPT 2024 CZ cze A - Abstrakt
Brunn, Ondřej - Knápek, Alexandr - Matějka, Milan - Krátký, Stanislav - Horáček, Miroslav - Meluzín, Petr - Chlumská, Jana - Sadílek, Jakub - Burda, Daniel - Král, Stanislav - Ondříšková, Martina - Podstránský, Jáchym - Košelová, Zuzana - Allaham, Mohammad M. - Kolařík, Vladimír
Elektronová litografie a funkční nanostruktury.
IMAPS Flash Conference. 9th International Microelectronics Assembly and Packaging Society Flash Conference. Extended abstracts. Brno: Brno University of Technology, FEEC, 2023 - (Otáhal, A.; Szendiuch, I.; Skácel, J.). s. 12-13. ISBN 978-80-214-6185-7.
[IMAPS Flash Conference 2023. International Microelectronics Assembly and Packaging Society Flash Conference /9./. 26.10.2023-27.10.2023, Brno]
Výzkumná infrastruktura: CzechNanoLab - 90110
Institucionální podpora: RVO:68081731
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0352625 - 2.0512151 - ÚPT 2020 JO eng A - Abstrakt
Matějka, Milan - Chlumská, Jana - Krátký, Stanislav - Řiháček, Tomáš - Knápek, Alexandr - Kolařík, Vladimír
Fabrication of functional nanostructures in thin silicon nitride membranes.
Fourth International Symposium on Dielectric Materials and Applications (ISyDMA 4). Book of Abstracts. Amman: Jordan University of Science & Technology, 2019.
[The Fourth International Symposium on Dielectric Materials and Applications (ISyDMA 4). 02.05.2019-04.05.2019, Amman]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: thin dielectric layers * silicon nitride * membranes * electron beam lithography
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0302363 - 3.0512017 - ÚPT 2020 CZ eng A - Abstrakt
Matějka, Milan - Krátký, Stanislav - Řiháček, Tomáš - Knápek, Alexandr - Kolařík, Vladimír
Functional nano–structuring of thin silicon nitride membranes.
5th IMAPS Flash Conference. Book of Abstracts. Brno: University of Technology, 2019. s. 74-75.
[International Microelectronics Assembly and Packaging Society Flash Conference /5./. IMAPS. 24.10.2019-25.10.2019, Brno]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0302234 - 4.0510323 - ÚPT 2020 DE eng A - Abstrakt
Řiháček, Tomáš - Mika, Filip - Horák, M. - Schachinger, T. - Matějka, Milan - Krátký, Stanislav - Müllerová, Ilona
Creation and detection of electron vortex beams in a scanning electron microscope.
Microscopy Conference: MC 2019. Abstracts. Berlin: DSE, 2019. s. 409-410.
[Microscopy Conference : MC 2019. 01.09.2019-05.09.2019, Berlin]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: detection of electron vortex beams * SEM
Obor OECD: Nano-materials (production and properties)
https://www.microscopy-conference.de
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0300832 - 5.0495256 - ÚPT 2019 CZ eng A - Abstrakt
Horáček, Miroslav - Meluzín, Petr - Krátký, Stanislav - Matějka, Milan - Knápek, Alexandr - Kolařík, Vladimír
Spiral Arrangement: from Nanostructures to Packaging.
IMAPS Flash Conference. 4th Interrnational Microelectronics Assembly and Packaging Society Flash Conference. Book of Abstracts. Brno: University of Technbology Brno, 2018. s. 62-63. ISBN 978-80-214-5680-8.
[IMAPS Flash Conference. Interrnational Microelectronics Assembly and Packaging Society Flash Conference /4./. 25.10.2018-26.10.2018, Brno]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron beam lithography * phyllotaxis * spiral arrangement * parastichy
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0288490 - 6.0431333 - ÚPT 2015 CZ eng A - Abstrakt
Knápek, Alexandr - Radlička, Tomáš - Krátký, Stanislav
Design and simulation of a carbon nanotube electron source.
9th International Conference on Charged Particle Optics. Book of Abstracts. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v. v. i, 2014. s. 62. ISBN 978-80-87441-11-4.
[International Conference on Charged Parrticle Optics /9./. 31.08.2014-05.09.2014, Brno]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: field emission * carbon nanotubes * Monte-Carlo simulations * finite element method
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0236393 - 7.0431332 - ÚPT 2015 CZ eng A - Abstrakt
Kolařík, Vladimír - Krátký, Stanislav - Urbánek, Michal
PEC reliability in 3D e-beam DOE nanopatterning.
9th International Conference on Charged Particle Optics. Book of Abstracts. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v. v. i, 2014. s. 37. ISBN 978-80-87441-11-4.
[International Conference on Charged Parrticle Optics /9./. 31.08.2014-05.09.2014, Brno]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LO1212; GA TA ČR TE01020233
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: proximity effect correction * diffractive optical elements
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0236392 - 8.0429465 - ÚPT 2015 GB eng A - Abstrakt
Krátký, Stanislav - Kolařík, Vladimír - Urbánek, Michal - Matějka, Milan - Horáček, Miroslav - Chlumská, Jana - Neděla, Vilém - Jaffrezic-Renault, N. - Krejčí, J. - Kučerová, R. - Plička, R. - Krejčí, T.
Differential conductometry biosensors prepared by lift-off technique by using of e-beam writer with shaped beam.
39th International Conference on Micro and Nano Engineering MNE2013. Book of Abstracts. Cambridge: University of Cambridge, 2013. s. 387.
[MNE2013. International Conference on Micro and Nano Engineering /39./. 16.09.2013-19.09.2013, London]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: differential conductometry biosensor * electron-beam lithography * microorganism detection
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0234577 - 9.0429463 - ÚPT 2015 GB eng A - Abstrakt
Urbánek, Michal - Matějka, Milan - Kolařík, Vladimír - Horáček, Miroslav - Krátký, Stanislav - Bok, Jan - Chlumská, Jana - Mikšík, P. - Vašina, J.
Variable shape E-beam writing: proximity effect simulation and correction of binary and relief structures.
39th International Conference on Micro and Nano Engineering MNE2013. Book of Abstracts. Cambridge: University of Cambridge, 2013. s. 582.
[MNE2013. International Conference on Micro and Nano Engineering /39./. 16.09.2013-19.09.2013, London]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: rectangular shaped beam * proximity effect simulation * binary structures and relief structures
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0234576