Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0471601 - ÚPT 2017 RIV SK eng J - Článek v odborném periodiku
    Kořínek, Radim - Mikulka, J. - Hřib, J. - Hudec, Jiří - Havel, L. - Bartušek, Karel
    Characterization of the Embryogenic Tissue of the Norway Spruce Including a Transition Layer between the Tissue and the Culture Medium by Magnetic Resonance Imaging.
    Measurement Science Review. Roč. 17, č. 1 (2017), s. 19-26. ISSN 1335-8871. E-ISSN 1335-8871
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-22777S; GA ČR GA13-09086S; GA MŠMT ED0017/01/01; GA MŠMT(CZ) LO1212
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: Norway spruce * ESEs * mucilage * transition layer * MRI relaxometry
    Obor OECD: Plant sciences, botany
    Impakt faktor: 1.345, rok: 2017
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0268963
     
     
  2. 2.
    0385176 - ÚPT 2013 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Neděla, Vilém - Hřib, J. - Vooková, B.
    Imaging of early conifer embryogenic tissues with the environmental scanning electron microscope.
    Biologia Plantarum. Roč. 56, č. 3 (2012), s. 595-598. ISSN 0006-3134. E-ISSN 1573-8264
    Grant CEP: GA ČR GAP102/10/1410
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: Abies alba * A. numidica * extracellular matrix
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 1.692, rok: 2012
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0214520
     
     
  3. 3.
    0384090 - ÚPT 2013 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Neděla, Vilém - Hřib, J. - Svidenská, S. - Vooková, B. - Runštuk, Jiří
    Environmental Scanning Electron Microscope As A Tool For Imaging Of Native State Somatic Embryogenesis.
    Microscopy and Microanalysis. Roč. 18, Suppl. 2 (2012), s. 1270-1271. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115
    Grant CEP: GA ČR GAP102/10/1410; GA MPO FR-TI1/305; GA MPO FR-TI1/118; GA MŠMT EE.2.3.20.0103
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: environmental scanning electron microscopy * somatic embryogenesis
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 2.495, rok: 2012
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0217617
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.