Výsledky vyhledávání
- 1.0420632 - FZÚ 2014 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Sobotík, P. - Setvín, M. - Zimmermann, P. - Kocán, P. - Ošt'ádal, I. - Mutombo, Pingo - Ondráček, Martin - Jelínek, Pavel
Emergence of state at Fermi level due to the formation of In-Sn heterodimers on Si(100)-2×1.
Physical Review. B. Roč. 88, č. 20 (2013), "205406-1"-"205406-7". ISSN 1098-0121
Grant CEP: GA ČR(CZ) GPP204/11/P578; GA ČR GAP204/10/0952
Grant ostatní: GA AV ČR(CZ) M100101207
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: STM * STS * DFT * 1D metallic chains
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 3.664, rok: 2013
http://link.aps.org/doi/10.1103/PhysRevB.88.205406
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0227168 - 2.0399920 - FZÚ 2014 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Yurtsever, A. - Sugimoto, Y. - Tanaka, H. - Abe, M. - Morita, S. - Ondráček, Martin - Pou, P. - Pérez, R. - Jelínek, Pavel
Force mapping on a partially H-covered Si(111)-(7x7) surface: Influence of tip and surface reactivity.
Physical Review. B. Roč. 87, č. 15 (2013), "155403-1"-"155403-10". ISSN 1098-0121
Grant CEP: GA ČR(CZ) GPP204/11/P578; GA ČR GAP204/10/0952; GA AV ČR IAA100100905
Grant ostatní: GA AV ČR(CZ) M100101207
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: atomic force microscopy * DFT simulations * silicon surface * surface passivation * electrostatic interaction
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 3.664, rok: 2013
http://link.aps.org/doi/10.1103/PhysRevB.87.155403
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0227067 - 3.0399906 - FZÚ 2014 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Sugimoto, Y. - Yurtsever, A. - Abe, M. - Morita, S. - Ondráček, Martin - Pou, P. - Perez, R. - Jelínek, Pavel
Role of tip chemical reactivity on atom manipulation process in dynamic force microscopy.
ACS Nano. Roč. 7, č. 8 (2013), s. 7370-7376. ISSN 1936-0851. E-ISSN 1936-086X
Grant CEP: GA ČR(CZ) GPP204/11/P578
Grant ostatní: GA AV ČR(CZ) M100101207
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: noncontact atomic force microscopy * atomic manipulation * force spectroscopy * chemical interaction force * DFT simulations * nudged elastic band
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 12.033, rok: 2013
http://pubs.acs.org/doi/abs/10.1021/nn403097p
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0227065 - 4.0399566 - FZÚ 2014 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Sugimoto, Y. - Ondráček, Martin - Abe, M. - Pou, P. - Morita, S. - Perez, R. - Flores, F. - Jelínek, Pavel
Quantum degeneracy in atomic point contacts revealed by chemical force and conductance.
Physical Review Letters. Roč. 111, č. 10 (2013), "106803-1"-"106803-5". ISSN 0031-9007. E-ISSN 1079-7114
Grant CEP: GA ČR(CZ) GPP204/11/P578
Grant ostatní: GA AV ČR(CZ) M100101207
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: scanning tunneling microscopy * atomic force microscopy * degenerate states * silicon surface * dangling bonds
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 7.728, rok: 2013
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0226828 - 5.0399525 - FZÚ 2014 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Weymouth, A.J. - Meuer, D. - Mutombo, Pingo - Wutscher, T. - Ondráček, Martin - Jelínek, Pavel - Giessibl, F.J.
Atomic structure affects the directional dependence of friction.
Physical Review Letters. Roč. 111, č. 12 (2013), "126103-1"-"126103-4". ISSN 0031-9007. E-ISSN 1079-7114
Grant CEP: GA ČR(CZ) GPP204/11/P578
Grant ostatní: GA AV(CZ) M100101207
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: atomic scale friction * atomic force microscopy * silicon surface
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 7.728, rok: 2013
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0226758 - 6.0392295 - FZÚ 2014 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Majzik, Zsolt - Drevniok, B. - Kamiński, W. - Ondráček, Martin - McLean, A.B. - Jelínek, Pavel
Room temperature discrimination of adsorbed molecules and attachment sites on the Si(111)–7 × 7 surface using a qPlus sensor.
ACS Nano. Roč. 7, č. 3 (2013), 2686-2692. ISSN 1936-0851. E-ISSN 1936-086X
Grant CEP: GA ČR(CZ) GPP204/11/P578; GA ČR GAP204/10/0952
Grant ostatní: AVČR(CZ) M100101207
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: nc-AFM * STM * DFT * molecular recognition * Si surface
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 12.033, rok: 2013
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0221198 - 7.0389178 - FZÚ 2013 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Setvín, Martin - Mutombo, Pingo - Ondráček, Martin - Majzik, Zsolt - Švec, Martin - Cháb, Vladimír - Ošt'ádal, I. - Sobotík, P. - Jelínek, Pavel
Chemical identification of single atoms in heterogeneous III-IV chains on Si(100) surface by means of nc-AFM and DFT calculations.
ACS Nano. Roč. 6, č. 8 (2012), s. 6969-6976. ISSN 1936-0851. E-ISSN 1936-086X
Grant CEP: GA ČR(CZ) GPP204/11/P578; GA ČR GAP204/10/0952; GA AV ČR IAA100100905; GA ČR GD202/09/H041
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: chemical identification * nc AFM * Si(100) * DFT * Sn * In
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 12.062, rok: 2012
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0218066 - 8.0377181 - FZÚ 2013 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Jelínek, Pavel - Ondráček, Martin - Flores, F.
Relation between the chemical force and the tunnelling current in atomic point contacts: a simple model.
Journal of Physics-Condensed Matter. Roč. 24, č. 8 (2012), s. 1-10. ISSN 0953-8984. E-ISSN 1361-648X
Grant CEP: GA ČR(CZ) GPP204/11/P578; GA ČR GAP204/10/0952; GA ČR GA202/09/0545
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: tunneling * nanoscale contacts * scanning tunneling microscopy * atomic force microscopy
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 2.355, rok: 2012
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0209414 - 9.0374985 - FZÚ 2012 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Ondráček, Martin - González, C. - Jelínek, Pavel
Reversal of atomic contrast in scanning probe microscopy on (111) metal surfaces.
Journal of Physics-Condensed Matter. Roč. 24, 08 (2012), 084003/1-084003/7. ISSN 0953-8984. E-ISSN 1361-648X
Grant CEP: GA ČR(CZ) GPP204/11/P578; GA ČR GAP204/10/0952; GA ČR GA202/09/0545; GA MŠMT(CZ) ME10076
Grant ostatní: AVČR(CZ) M100100904
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: atomic force microscopy * metallic surfaces * atomic contrast * scanning tunneling microscopy
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 2.355, rok: 2012
http://iopscience.iop.org/0953-8984/24/8/084003
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0207769 - 10.0372290 - FZÚ 2012 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Campbellová, A. - Ondráček, Martin - Pou, P. - Pérez, R. - Klapetek, P. - Jelínek, Pavel
´Sub-atomic´ resolution of non-contact atomic force microscope images induced by a heterogeneous tip structure: a density functional theory study.
Nanotechnology. Roč. 22, č. 29 (2011), 295710/1-295710/7. ISSN 0957-4484. E-ISSN 1361-6528
Grant CEP: GA AV ČR IAA100100905; GA ČR GAP204/10/0952; GA ČR(CZ) GPP204/11/P578
Grant ostatní: AVČR(CZ) M100100904
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: density functional theory * atomic force microscope * semiconductor surface * sub-atomic resolution
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 3.979, rok: 2011
http://iopscience.iop.org/0957-4484/22/29/295710
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0205643