Výsledky vyhledávání
- 1.0448445 - ÚPT 2016 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Lazar, Josef - Holá, Miroslava - Hrabina, Jan - Oulehla, Jindřich - Číp, Ondřej
Interferometry within a resonant cavity with standing wave detection.
Second International Conference on Applications of Optics and Photonics (Proceedings of SPIE 9286). Bellingham: SPIE, 2014, 92860C:1-6. ISBN 9781628413618. ISSN 0277-786X.
[Second International Conference on Applications of Optics and Photonics. Aveiro (PT), 26.05.2014-30.05.2014]
Grant CEP: GA MŠMT ED0017/01/01; GA MŠMT EE2.4.31.0016; GA TA ČR TA02010711; GA TA ČR TE01020233; GA ČR GPP102/11/P820
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: interferometry * refractometry * metrology
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0250144 - 2.0436586 - ÚPT 2015 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Lazar, Josef - Holá, Miroslava - Hrabina, Jan - Buchta, Zdeněk - Číp, Ondřej - Oulehla, Jindřich
Interferometry with Stabilization of Wavelength within a Fixed Measuring Range.
FRINGE 2013 7th International Workshop on Advanced Optical Imaging and Metrology. Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2013 - (Osten, W.), s. 645-648. Sringer. ISBN 978-3-642-36358-0.
[FRINGE 2013 7th International Workshop on Advanced Optical Imaging and Metrology. Nurtingen (DE), 09.09.2013-11.09.2013]
Grant CEP: GA ČR GPP102/11/P820; GA MŠMT ED0017/01/01; GA MŠMT EE2.4.31.0016; GA TA ČR TA02010711; GA TA ČR TE01020233
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: interferometry * tabilization of wavelength * measuring range
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0240302 - 3.0434169 - ÚPT 2015 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Holá, Miroslava - Lazar, Josef - Číp, Ondřej - Buchta, Zdeněk
In-beam tracking refractometry for coordinate interferometric measurement.
Optical Micro- and Nanometrology V. (Proceedings of SPIE 9132). Bellingham: SPIE, 2014, 91321K: 1-7. ISSN 0277-786X.
[Optical Micro- and Nanometrology /5./. Brussels (BE), 15.04.2014-17.04.2014]
Grant CEP: GA ČR GPP102/11/P820; GA MŠMT ED0017/01/01; GA MŠMT EE2.4.31.0016; GA TA ČR TA02010711; GA TA ČR TE01020233; GA TA ČR TA01010995; GA MŠMT(CZ) LO1212
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: refractometry * refractive index * interferometers * laser interferometry * lasers * scanning probe microscopy
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0238305 - 4.0434165 - ÚPT 2015 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Hrabina, Jan - Šarbort, Martin - Číp, Ondřej - Lazar, Josef … celkem 5 autorů
Spectral properties of molecular iodine absorption cells filled to saturation pressure.
Optical Micro- and Nanometrology V. (Proceedings of SPIE 9132). Bellingham: SPIE, 2014, 91320Y:1-7. ISSN 0277-786X.
[Optical Micro- and Nanometrology /5./. Brussels (BE), 15.04.2014-17.04.2014]
Grant CEP: GA ČR GPP102/11/P820; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01; GA MŠMT EE2.4.31.0016; GA TA ČR TA02010711; GA TA ČR TA01010995
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: laser spectroscopy * laser metrology * molecular iodine * absorption cells * optical frequency references
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0238297 - 5.0434164 - ÚPT 2015 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Lazar, Josef - Holá, Miroslava - Fejfar, Antonín - Stuchlík, Jiří - Kočka, Jan - Oulehla, Jindřich - Číp, Ondřej
Displacement measurement with intracavity interferometry.
Optical Micro- and Nanometrology V. (Proceedings of SPIE 9132). Bellingham: SPIE, 2014, 913210:1-6. ISSN 0277-786X.
[Optical Micro- and Nanometrology /5./. Brussels (BE), 15.04.2014-17.04.2014]
Grant CEP: GA ČR GPP102/11/P820; GA MŠMT ED0017/01/01; GA MŠMT EE2.4.31.0016; GA TA ČR TA02010711; GA TA ČR TE01020233; GA TA ČR TA01010995; GA MŠMT(CZ) LO1212
Institucionální podpora: RVO:68081731 ; RVO:68378271
Klíčová slova: antireflective coatings * Fabry–Perot interferometers * interferometry * lasers * photodetectors * refractive index * silicon
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0238300 - 6.0431959 - ÚPT 2015 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Hrabina, Jan - Lazar, Josef - Klapetek, P. - Valtr, M. - Číp, Ondřej - Oulehla, Jindřich - Čížek, Martin - Holá, Miroslava - Šerý, Mojmír
6-axis interferometric coordinates measurement system for nanometrology.
Photonic Instrumentation Engineering (Proceedings of Spie 8992). Bellingham: SPIE, 2014, 89920W:1-8. ISSN 0277-786X.
[Photonic Instrumentation Engineering. San Francisco (US), 02.02.2014-05.02.2014]
Grant CEP: GA ČR GPP102/11/P820; GA MŠMT ED0017/01/01; GA MŠMT EE2.4.31.0016; GA TA ČR TA02010711; GA TA ČR TE01020233; GA MŠMT(CZ) LO1212
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: nanometrology * AFM * nanoscale * nanopositioning interferometry
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0236468 - 7.0421263 - ÚPT 2014 RIV CZ cze C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Hrabina, Jan
Multidimensionální interferometrický odměřovací systém pro AFM mikroskopii - národní etalon pro nanometrologii.
[Multidimensional interferometric measuremenr system for AFM microscopy - national standard for nanometrology.]
Sborník příspěvků multioborové konference LASER53. Brno: Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i, 2013, s. 34-35. ISBN 978-80-87441-10-7.
[LASER53. Třešť (CZ), 30.10.2013-01.11.2013]
Grant CEP: GA ČR GPP102/11/P820; GA MŠMT ED0017/01/01; GA MŠMT EE2.4.31.0016; GA TA ČR TA02010711; GA TA ČR TE01020233
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: interferometry * nanometrology * AFM
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0227652 - 8.0421238 - ÚPT 2014 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Holá, Miroslava - Hrabina, Jan - Oulehla, Jindřich - Čížek, Martin - Mikel, Břetislav - Řeřucha, Šimon - Buchta, Zdeněk - Číp, Ondřej - Lazar, Josef
Precision positioning with suppression of the influence of refractive index of air.
Optical Measurement Systems for Industrial Inspection VIII (Proceedings of SPIE Vol. 8788). Bellingham: SPIE, 2013, 878831:1-7. ISBN 978-0-8194-9604-1.
[Optical Measurement Systems for Industrial Inspection /8./. Munich (DE), 13.05.2013-16.05.2013]
Grant CEP: GA ČR GA102/09/1276; GA ČR GPP102/11/P820; GA TA ČR TA02010711; GA TA ČR TE01020233; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: nanometrology * refractometry * interferometry * refractive index * nanoscale
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0227647 - 9.0398400 - ÚPT 2014 RIV GB eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Lazar, Josef - Holá, Miroslava - Hrabina, Jan - Buchta, Zdeněk - Číp, Ondřej
Interferometry with suppression of fast fluctuations of the refractive index of air for nanometrology.
Sixth International Symposium on Precision Mechanical Measurements (Proceedings of SPIE 8916). Bellingham: SPIE, 2013, 89161J: 1-6. ISSN 0277-786X.
[International Symposium on Precision Mechanical Measurements /6./. Guiyang (CN), 10.10.2013]
Grant CEP: GA ČR GPP102/11/P820; GA MŠMT ED0017/01/01; GA MŠMT EE2.4.31.0016; GA TA ČR TA02010711; GA TA ČR TE01020233
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: Nanometrology * Interferometry * Refractometry
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0225897 - 10.0398396 - ÚPT 2014 RIV GB eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Hrabina, Jan - Lazar, Josef - Klapetek, P. - Číp, Ondřej - Čížek, Martin - Šerý, Mojmír
Nanometrology interferometric coordinates measurement system for local probe microscopy.
Sixth International Symposium on Precision Mechanical Measurements (Proceedings of SPIE 8916). Bellingham: SPIE, 2013, 89160C: 1-7. ISSN 0277-786X.
[International Symposium on Precision Mechanical Measurements /6./. Guiyang (CN), 08.08.2013-12.08.2013]
Grant CEP: GA ČR GPP102/11/P820; GA MPO FR-TI2/705; GA TA ČR TA01010995; GA TA ČR TA02010711; GA TA ČR TE01020233; GA MŠMT ED0017/01/01; GA MŠMT EE2.4.31.0016
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: Microscopy * Scanning probe microscopy * Visible radiation * Atomic force microscopy * Metrology * Microscopes
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0225872