Výsledky vyhledávání
- 1.0371107 - ÚFM 2012 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
Caha, O. - Bernatová, S. - Meduňa, M. - Svoboda, Milan - Buršík, Jiří
Study of oxide precipitates in silicon using X-ray diffraction techniques.
Physica Status Solidi A. Roč. 208, č. 11 (2011), s. 2587-2590. ISSN 1862-6300. E-ISSN 1862-6319
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA202/09/1013
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20410507
Klíčová slova: high-resolution X-ray diffraction * oxide precipitates * silicon
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.463, rok: 2011
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0204724 - 2.0362811 - ÚFM 2012 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Meduňa, M. - Caha, O. - Růžička, J. - Bernatová, S. - Svoboda, Milan - Buršík, Jiří
Oxygen precipitation studied by x-ray diffraction techniques.
Solid State Phenomena. 178 -179, - (2011), s. 325-330. ISSN 1012-0394
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA202/09/1013
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20410507
Klíčová slova: Czochralski silicon * oxygen precipitates * x-ray Laue diffraction
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0199018