Výsledky vyhledávání
- 1.0434108 - ÚPT 2015 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Matějková-Plšková, J. - Mika, Filip - Jiwajinda, S. - Dechkrong, P. - Svidenská, S. - Shiojiri, M.
Photonic Crystal Structure of Butterfly Wing Scales Exhibiting Selective Wavelength Iridescence.
18th International Microscopy Congres. Proceedings. Praha: Czechoslovak Microscopy Society, 2014. ISBN 978-80-260-6720-7.
[International Microscopy Congres /18./. Praha (CZ), 07.09.2014-12.09.2014]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: butterfly wing * coloration * SEM * TEM * photonic crystal structure
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0238243 - 2.0421180 - ÚPT 2014 JP eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Neděla, Vilém - Tihlaříková, Eva - Shiojiri, M.
Environmental scanning electron microscope for observation in live nature.
69th Annual Meeting of the Japanese Society of Microscopy. Osaka: The Japanese Society of Microscopy, 2013.
[Annual Meeting of the Japanese Society of Microscopy /69./. Osaka (JP), 20.05.2013-22.05.2013]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: ESEM * AQUASEM II * biological samples * in-situ experiments
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0227602 - 3.0379915 - ÚPT 2012 RIV AU eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Müllerová, Ilona - Mikmeková, Šárka - Matsuda, K. - Mikmeková, Eliška - Ikeno, S. - Shiojiri, M.
SLEEM and its Applications in Material Research.
Coneference Proceedings APMC-10, ICONN 2012 and ACMM-22. Wembley: EECW Pty Ltd, 2012, 409: 1-2. ISBN 978-1-74052-245-8.
[Asia-Pacific Microscopy Conference (APMC-10) - International Conference on Nanoscience and Nanotechnology (ICONN 2012) - Australian Conference on Microscopy and Microanalysis (ACMM-22). Perth (AU), 05.02.2012-09.02.2012]
Grant CEP: GA MPO FR-TI3/323; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: scanning low energy electron microscopy * cathode lens
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0210766