Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0484973 - ÚFP 2018 CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Hübner, Jakub - Nevrkla, M.
    Double pulse capillary discharge assessment for nitrogen soft X-ray laser.
    Proceedings of the 3rd International Workshop on Frontiers of X&XUV Optics and its Applications, 3rd IW FX & XUVOA. Prague: Institute of Plasma Physics Czech Academy of Sciences, 2017 - (Koláček, K.; Sobota, J.), č. článku O-11. ISBN 978-80-870026-09-0.
    [International Workshop on Frontiers of X&XUV Optics and its Applications 2017, 3rd IW FX & XUVOA /3./. Prague (CZ), 04.10.2017-06.10.2017]
    Institucionální podpora: RVO:61389021
    Klíčová slova: capillary discharge * XUV laser * pinch dynamics * nitrogen recombination schema * ablation
    Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0280236
     
     
  2. 2.
    0329684 - ÚFP 2010 RIV NL eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Vrba, Pavel - Bobrova, N. A. - Sasorov, P. V. - Vrbová, M. - Hübner, Jakub
    Modelling of Capillary Z- Pinch Recombination Pumping of Hydrogen-like Ion EUV Lasers.
    [Modelování rekombinačního buzení EUV laseru v kapilárním Z-pinči vodíku podobného boronového iontu.]
    X – Ray Lasers 2008. P.O. Box 17, 30 AA Dordrecht: Springer, 2009 - (Lewis, C.; Riley, D.), s. 239-246. Springer Proceedings in Physics, A C.I.P. Catalogue record for this book is available from the Library of Congress. 130. ISBN 978-1-4020-9923-6.
    [International Conference on X-Ray Lasers/11th./. Queen's University Belfast (IE), 17.08.2008-22.08.2008]
    Grant CEP: GA ČR GA102/07/0275
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20430508
    Klíčová slova: Z-pinch * X-ray laser and radiation source * MHD simulations * Ion kinetics
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    www.springer.com
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0175651
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.