Výsledky vyhledávání
- 1.0500161 - ÚFP 2019 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Milov, I. - Makhotkin, I.A. - Sobierajski, R. - Medvedev, Nikita - Lipp, V. - Chalupský, J. - Sturm, J.M. - Tiedtke, K. - de Vries, G. - Stoermer, M. - Siewert, F. - van de Kruijs, R. - Louis, E. - Jacyna, I. - Jurek, M. - Juha, L. - Hájková, V. - Vozda, V. - Burian, T. - Saksl, K. - Faatz, B. - Keitel, B. - Ploenjes, E. - Schreiber, S. - Toleikis, S. - Loch, R. - Hermann, M. - Strobel, S. - Nienhuys, H.-K. - Gwalt, G. - Mey, T. - Enkisch, H. - Bijkerk, F.
Mechanism of single-shot damage of Ru thin films irradiated by femtosecond extreme UV free-electron laser.
Optics Express. Roč. 26, č. 15 (2018), s. 19665-19685. ISSN 1094-4087
Grant CEP: GA MŠMT EF16_013/0001552
Institucionální podpora: RVO:61389021
Klíčová slova: molecular-dynamics * threshold measurements * multilayer optics * lattice-dynamics * metal targets * pulse * ablation * spallation * radiation * surface
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Impakt faktor: 3.561, rok: 2018
https://www.osapublishing.org/oe/abstract.cfm?uri=oe-26-15-19665
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0292293 - 2.0492824 - FZÚ 2019 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Milov, I. - Makhotkin, I.A. - Sobierajski, R. - Medvedev, Nikita - Lipp, V. - Chalupský, Jaromír - Sturm, J.M. - Tiedtke, K. - de Vries, G. - Störmer, M. - Siewert, F. - van de Kruijs, R. - Louis, E. - Jacyna, I. - Jurek, M. - Juha, Libor - Hájková, Věra - Vozda, Vojtěch - Burian, Tomáš - Saksl, K. - Faatz, B. - Keitel, B. - Ploenjes, E. - Schreiber, S. - Toleikis, S. - Loch, R. - Hermann, M. - Strobel, S. - Nienhuys, H.-K. - Gwalt, G. - Mey, T. - Enkisch, H. - Bijkerk, F.
Mechanism of single-shot damage of Ru thin films irradiated by femtosecond extreme UV free-electron laser.
Optics Express. Roč. 26, č. 15 (2018), s. 19665-19685. ISSN 1094-4087
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA17-05167s; GA MŠMT LG15013
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: free-electron lasers * XUV mirrors * Ruthenium material * single-shot damage of thin films
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Impakt faktor: 3.561, rok: 2018
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0286255 - 3.0489644 - ÚFP 2019 RIV DK eng J - Článek v odborném periodiku
Makhotkin, I.A. - Sobierajski, R. - Chalupský, J. - Tiedtke, K. - de Vries, G. - Stoermer, M. - Scholze, F. - Siewert, F. - van de Kruijs, R.W.E. - Louis, E. - Jacyna, I. - Jurek, M. - Klinger, D. - Nittler, L. - Syryanyy, Y. - Juha, Libor - Hájková, V. - Vozda, V. - Burian, Tomáš - Saksl, K. - Faatz, B. - Keitel, B. - Ploenjes, E. - Schreiber, S. - Toleikis, S. - Loch, R. - Hermann, M. - Strobel, S. - Nienhuys, H.-K. - Gwalt, G. - Mey, T. - Enkisch, H.
Experimental study of EUV mirror radiation damage resistance under long-term free-electron laser exposures below the single-shot damage threshold.
Journal of Synchrotron Radiation. Roč. 25, č. 1 (2018), s. 77-84. ISSN 0909-0495. E-ISSN 1600-5775.
[Workshop on FEL Photon Diagnostics, Instrumentation and Beamline Design (PhotonDiag2017). Stanford, 01.05.2017-03.05.2017]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-29772S; GA MŠMT LG15013
Institucionální podpora: RVO:61389021
Klíčová slova: free-electron laser induced damage * EUV optics * thin films * FELs
Obor OECD: Fluids and plasma physics (including surface physics)
Impakt faktor: 2.452, rok: 2018
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0284055 - 4.0487414 - FZÚ 2019 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Makhotkin, I. - Sobierajski, R. - Chalupský, Jaromír - Tiedtke, K. - de Vries, G. - Stoermer, M. - Scholze, F. - Siewert, F. - van de Kruijs, R.W.E. - Milov, I. - Louis, E. - Jacyna, I. - Jurek, M. - Klinger, D. - Nittler, L. - Syryanyy, Y. - Juha, Libor - Hájková, Věra - Vozda, Vojtěch - Burian, Tomáš - Saksl, Karel - Faatz, B. - Keitel, B. - Ploenjes, E. - Schreiber, S. - Toleikis, S. - Loch, R.A. - Hermann, M. - Strobel, S. - Nienhuys, H.-K. - Gwalt, G. - Mey, T. - Enkisch, H.
Experimental study of EUV mirror radiation damage resistance under long-term free-electron laser exposures below the single-shot damage threshold.
Journal of Synchrotron Radiation. Roč. 25, č. 1 (2018), s. 77-84. ISSN 0909-0495. E-ISSN 1600-5775.
[Workshop on FEL Photon Diagnostics, Instrumentation and Beamline Design (PhotonDiag2017). Stanford, 01.05.2017-03.05.2017]
Grant CEP: GA MŠMT LG15013; GA ČR(CZ) GA17-05167s; GA ČR(CZ) GA14-29772S
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: free-electron laser induced damage * EUV optics * thin films * FELs
Obor OECD: Fluids and plasma physics (including surface physics)
Impakt faktor: 2.452, rok: 2018
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0283325 - 5.0328161 - FZÚ 2010 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Němec, Hynek - Nienhuys, H.-K. - Perzon, E. - Zhang, F. - Inganäs, O. - Kužel, Petr - Sundström, V.
Ultrafast conductivity in a low-band-gap polyphenylene and fullerene blend studied by terahertz spectroscopy.
[Ultrarychlá vodivost ve směsi úzkopásového polyfenylenu a fullerenu studovaná terahertzovou spektroskopií.]
Physical Review. B. Roč. 79, č. 24 (2009), 245326/1-245326/7. ISSN 1098-0121. E-ISSN 2469-9969
Grant CEP: GA ČR(CZ) GP202/09/P099; GA MŠMT LC512; GA ČR(CZ) GA202/06/0286
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100520
Klíčová slova: time-resolved terahertz spectroscopy * ultrafast conductivity * polymer * solar-cell material
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 3.475, rok: 2009
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0174542