Výsledky vyhledávání
- 1.0552216 - ÚPT 2022 RIV CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Šebestová, Hana - Horník, Petr - Mikmeková, Šárka - Novotný, Jan - Mrňa, Libor
Svařování vysokopevnostní pohliníkované oceli 22MnB5.
[Welding of Al-Si coated high-strength steel 22MnB5.]
LA61. Sborník příspěvků multioborové konference LASER61. Brno: Ústav přístrojové techniky AV ČR, 2021 - (Růžička, B.), s. 78-79. ISBN 978-80-87441-28-2.
[LASER61. Lednice (CZ), 20.10.2021-22.10.2021]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TH04010366
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: laser welding * laser-TIG welding * high-strength steel * cooling rate * microstructure * microhardness * tensile strength
Obor OECD: Mechanical engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0327355 - 2.0551148 - ÚPT 2022 RIV CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Ambrož, Ondřej - Čermák, Jan - Mikmeková, Šárka
Nové metody přípravy vzorků pro moderní rastrovací elektronovou mikroskopii.
[New methods of sample preparation for modern scanning electron microscopy.]
15. konference Přínos metalografie pro řešení výrobních problémů. Sborník přednášek. Praha: České vysoké učení technické v Praze, 2021, s. 114-120. ISBN 978-80-01-06883-0.
[Přínos metalografie pro řešení výrobních problémů /15./. Mariánské Lázně (CZ), 21.09.2021-23.09.2021]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: TRIP steel * SEM * automation
Obor OECD: Materials engineering
http://www.metalografie.vzuplzen.cz/doc/sbornik-Metalografie2021.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0326590 - 3.0519446 - ÚPT 2020 RIV CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Ambrož, Ondřej - Mikmeková, Šárka
Pokročilé metody přípravy vzorků TRIP ocelí a jejich zobrazování moderními technikami rastrovacího elektronového mikroskopu.
[Advanced methods of TRIP steel sample preparation and imaging using modern scanning electron microscope techniques.]
56. slévárenské dny. Sborník přednášek. Brno: Česká slévárenská společnost, 2019, s. 125-131. ISBN 978-80-02-02882-6.
[Slévárenské dny /56./. Brno (CZ), 12.11.2019-13.11.2019]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: TRIP steels, scanning electron microscopy, metallography
Obor OECD: Materials engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0304423 - 4.0367164 - ÚPT 2012 CZ eng K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Konvalina, Ivo - Hovorka, Miloš - Mikmeková, Šárka - Müllerová, Ilona
Image contrasts in the scanning electron microscopy.
Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2011 - (Frank, L.; Hozák, P.), s. 49. ISBN N.
[Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě (CZ), 17.02.2011-18.02.2011]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650902
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: SEM * image contrast
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0006671 - 5.0367162 - ÚPT 2012 CZ eng K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Frank, Luděk - Mikmeková, Šárka - Konvalina, Ivo - Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš
Prospects of the scanning low energy electron microscopy in materials science.
Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2011 - (Frank, L.; Hozák, P.), s. 42. ISBN N.
[Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě (CZ), 17.02.2011-18.02.2011]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: SLEEM * cathode lens mode
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0006669 - 6.0353108 - ÚPT 2011 CZ eng K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Mikmeková, Eliška - Sobota, Jaroslav - Caha, O. - Mikmeková, Šárka
Study of intrinsic stress in CNx films prepared by magnetron sputtering device using electron microscopy.
Mikroskopie 2010. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2010 - (Frank, L.; Hozák, P.), s. 56. ISBN N.
[Mikroskopie 2010. Nové Město na Moravě (CZ), 17.02.2010-18.02.2010]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: carbon nitride * thin films * RF magnetron sputtering
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0006218 - 7.0353106 - ÚPT 2011 CZ eng K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Mikmeková, Šárka - Hovorka, Miloš - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Man, O. - Pantělejev, L. - Kouřil, M.
Mapping of the microscopic strain using scanning low energy electron microscopy.
Mikroskopie 2010. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2010 - (Frank, L.; Hozák, P.), s. 20. ISBN N.
[Mikroskopie 2010. Nové Město na Moravě (CZ), 17.02.2010-18.02.2010]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: SEM * SLEEM * UFG
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0006216