Výsledky vyhledávání
- 1.0341420 - ÚPT 2010 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Šmíd, Radek - Číp, Ondřej - Čížek, Martin - Mikel, Břetislav - Lazar, Josef
Conversion of Stability of Femtosecond Stabilized Mode-locked Laser to Optical Cavity Length.
IEEE Transactions on Ultrasonics, Ferroelectrics and Frequency Control. Roč. 57, č. 3 (2010), s. 636-640. ISSN 0885-3010. E-ISSN 1525-8955
Grant CEP: GA ČR GA102/09/1276; GA MŠMT(CZ) LC06007; GA MŠMT 2C06012; GA MPO 2A-1TP1/127; GA MPO FT-TA3/133; GA MPO 2A-3TP1/113; GA ČR GA102/07/1179
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: laser * Fabry-Perot * interferometer * length etalon
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 1.460, rok: 2010
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0184417 - 2.0330674 - ÚPT 2010 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Lazar, Josef - Klapetek, P. - Číp, Ondřej - Čížek, Martin - Šerý, Mojmír
Local probe microscopy with interferometric monitoring of the stage nanopositioning.
Measurement Science and Technology. Roč. 20, č. 8 (2009), 084007: 1-6. ISSN 0957-0233. E-ISSN 1361-6501
Grant CEP: GA AV ČR IAA200650504; GA MŠMT 2C06012; GA MŠMT(CZ) LC06007; GA MPO 2A-1TP1/127; GA MPO FT-TA3/133; GA MPO 2A-3TP1/113; GA ČR GA102/07/1179
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: interferometry * local probe microscopy * nanometrology * nanoscale * surface probe microscopy (SPM) * atomic force microscopy (AFM) * nanopositioning interferometry
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 1.317, rok: 2009
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0176405 - 3.0325114 - ÚPT 2009 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
Lazar, Josef - Číp, Ondřej - Čížek, Martin - Šerý, Mojmír
Interferometric Displacement Measurement for Local Probe Microscopy.
[Interferometrické měření polohy pro mikroskopii s lokální sondou.]
tm-Technisches Messen. Roč. 76, č. 5 (2009), s. 253-258. ISSN 0171-8096
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06007; GA AV ČR IAA200650504; GA AV ČR KAN311610701; GA MPO 2A-1TP1/127; GA MPO FT-TA3/133; GA MPO 2A-3TP1/113; GA ČR GA102/07/1179; GA MŠMT 2C06012
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: Interferometry * local probe microscopy * nanometrology
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 0.321, rok: 2009
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0172639