Výsledky vyhledávání
- 1.0352427 - ÚPT 2011 SG eng A - Abstrakt
Oral, Martin - Lencová, Bohumila
Correction of sample tilt in FIB instruments.
Eighth International Conference on Charged Particle Optics CPO-8. Singapore: National University of Singapore, 2010. s. 75-76.
[CPO /8./ International Conference on Charged Particle Optics. 12.07.2010-16.07.2010, Singapore]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650805
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: particle optical instruments * elliptical spot * astigmatic focusing * optimization computation
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0191934 - 2.0352426 - ÚPT 2011 SG eng A - Abstrakt
Zlámal, J. - Lencová, Bohumila
Development of EOD for the design in electron and ion microscopy.
Eighth International Conference on Charged Particle Optics CPO-8. Singapore: National University of Singapore, 2010. s. 73-74.
[CPO /8./ International Conference on Charged Particle Optics. 12.07.2010-16.07.2010, Singapore]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650805
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: EOD * electron microscopy * ion microscopy
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0191933