Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0452698 - FZÚ 2016 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Davydova, Marina - Kulha, P. - Babchenko, Oleg - Kromka, Alexander
    Hydrogen-terminated diamond surface as gas sensing layer working at room temperature.
    NANOCON 2015: 7th International Conference on Nanomaterials - Research and Application, Conference Proceedings. Ostrava: TANGER, spol. s r.o., 2015, s. 100-104. ISBN 978-80-87294-63-5.
    [NANOCON 2015. International Conference /7./. Brno (CZ), 14.10.2015-16.10.2015]
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GP14-06054P
    Institucionální podpora: RVO:68378271
    Klíčová slova: diamond * gas sensor * response * sensitivity
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0253617
     
     
  2. 2.
    0432192 - FZÚ 2015 RIV CH eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Varga, Marián - Laposa, A. - Kulha, P. - Davydova, Marina - Kroutil, J. - Husák, M. - Kromka, Alexander
    Fabrication of diamond based quartz crystal microbalance gas sensor.
    Key Engineering Materials : Materials and Applications for Sensors and Transducers III. Vol. 605. Zurich: Trans Tech Publications, 2014 - (Hristoforou, E.; Vlachos, D.), s. 589-592. ISBN 9783038350514. ISSN 1013-9826.
    [International Conference on Materials and Applications for Sensors and Transducers /3./ (IC-MAST 2013). Praha (CZ), 13.09.2013-17.09.2013]
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GAP108/11/0794
    Institucionální podpora: RVO:68378271
    Klíčová slova: diamond thin film * low temperature deposition * quartz crystal microbalance * gas sensor
    Kód oboru RIV: JB - Senzory, čidla, měření a regulace
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0236647
     
     
  3. 3.
    0386448 - ÚPT 2013 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Mikulík, P. - Humlíček, J. - Hovorka, Miloš - Kulha, P. - Kadlec, F.
    Education and research at clean room laboratory for silicon device technology at Masaryk University.
    Physic and Nanoscale. (Proceedings of the 10th IUVSTA International Summer School ). Praha: IOP AS CR, 2012 - (Fejfar, A.; Vetushka, A.). ISBN 978-80-260-0619-0.
    [Physics at Nanoscale. IUVSTA International Summer School /10./. Devět skal (CZ), 30.05.2012-04.06.2012]
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: silicon device technology * education and research * clean room laboratory
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0215746
     
     
  4. 4.
    0352495 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Mikulík, P. - Humlíček, J. - Kulha, P. - Hovorka, Miloš - Kadlec, Filip
    Education and research at clean room laboratory for silicon device technology at Masaryk University.
    12th Scientific and Business Conference SILICON 2010. Rožnov pod Radhoštěm: TECON Scientific s.r.o, 2010, s. 455-456. ISBN 978-80-254-7361-0.
    [SILICON 2010 /12./. Rožnov pod Radhoštěm (CZ), 02.11.2010-05.11.2010]
    Grant CEP: GA AV ČR(CZ) IAA100100907
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511; CEZ:AV0Z10100520
    Klíčová slova: clean room * microelectronic * silicon device technology
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0191990
     
     
  5. 5.
    0090460 - FZÚ 2008 RIV HR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Kulha, P. - Husák, M. - Výborný, Zdeněk - Jurka, Vlastimil - Vaněk, František - Pospíšil, K.
    Microsensors based on tensometric layers sputtered on silicon substrates.
    [Mikrosenzory na bázi tenzometrických vrstev naprášených na křemíkových substrátech.]
    Proceedings of the International Convention MIPRO 2006 /29./. Rijeka: MIPRO, 2006 - (Biljanovič, P.; Skala, K.), s. 57-62. ISBN 953-233-018-6.
    [International Convention /29./:Microelectronics, Electronics and Electronic Technologies/MEET. Opatija (HR), 22.05.2006-26.05.2006]
    Grant CEP: GA ČR GA102/03/0619
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521; CEZ:AV0Z20760514
    Klíčová slova: microsensors * tensometric layers * silicon substrates
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0151344
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.