Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0334092 - FZÚ 2010 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Hau-Riege, S.P. - London, R.A. - Bionta, R.M. - Ryutov, D. - Soufli, R. - Bajt, S. - McKernan, M.A. - Baker, S. L. - Krzywinski, J. - Sobierajski, R. - Nietubyc, R. - Klinger, D. - Pelka, J. B. - Jurek, M. - Juha, Libor - Chalupský, Jaromír - Cihelka, Jaroslav - Hájková, Věra - Velyhan, Andriy - Krása, Josef - Tiedtke, K. - Toleikis, S. - Wabnitz, H. - Bergh, M. - Caleman, C. - Timneanu, N.
    Wavelength dependence of the damage threshold of inorganic materials under extreme-ultraviolet free-electron-laser irradiation.
    [Závislost prahu poškození anorganických materiálů ozářených XUV laserem s volnými elektrony.]
    Applied Physics Letters. Roč. 95, č. 11 (2009), 111104/1-111104/3. ISSN 0003-6951. E-ISSN 1077-3118
    Grant CEP: GA AV ČR KAN300100702; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA MŠMT LA08024; GA AV ČR IAA400100701
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
    Klíčová slova: damage threshold * silicon carbide * boron carbide * soft X-ray free-electron laser
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Impakt faktor: 3.554, rok: 2009
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0178918
     
     
  2. 2.
    0086012 - FZÚ 2008 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Hau-Riege, S.P. - London, R.A. - Bionta, R.M. - McKernan, M.A. - Baker, S. L. - Krzywinski, J. - Sobierajski, R. - Nietubyc, R. - Pelka, J. B. - Jurek, M. - Juha, Libor - Chalupský, Jaromír - Cihelka, Jaroslav - Hájková, Věra - Velyhan, Andriy - Krása, Josef - Kuba, J. - Tiedtke, K. - Toleikis, S. - Tschentscher, T. - Wabnitz, H. - Bergh, M. - Caleman, C. - Sokolowski-Tinten, K. - Stojanovic, N. - Zastrau, U.
    Damage threshold of inorganic solids under free-electron-laser irradiation at 32.5 nm wavelength.
    [Prahy poškození anorganických pevných látek ozářených laserem s volnými elektrony na vlnové délce 32,5 nm.]
    Applied Physics Letters. Roč. 90, č. 17 (2007), 173128/1-173128/3. ISSN 0003-6951. E-ISSN 1077-3118
    Grant CEP: GA MŠMT 1P04LA235; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA AV ČR KAN300100702
    Grant ostatní: European Commission(XE) RII-CT-2004-506008, IA-SFS; GA MŠk(CZ) 1K05026
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523; CEZ:AV0Z40400503
    Klíčová slova: free-electron laser, * soft X-rays * damage threshold, * laser-matter interaction * ablation
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Impakt faktor: 3.596, rok: 2007
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0148390
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.